Контроль параметрів шорсткості поверхні деталей приладів в умовах автоматизованого виробництва
Вантажиться...
Дата
2022
Автори
Мельничук, Б. П.
Шевченко, В. В.
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
В роботі представлено систему контролю параметрів якості поверхні, а саме геометричного параметру шорсткості за допомогою методу хроматичного конфокального зондування. Розроблена принципова схема та блок-схема системи вимірювання параметрів шорсткості поверхні деталей приладів.
Опис
Ключові слова
параметри шорсткості поверхні, якість поверхні деталей приладів, система контролю
Бібліографічний опис
Мельничук, Б. П. Контроль параметрів шорсткості поверхні деталей приладів в умовах автоматизованого виробництва / Б. П. Мельничук, В. В. Шевченко // XVIII Науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених “Ефективність та автоматизація інженерних рішень у приладобудуванні”, 06-07 грудня 2022 р, м. Київ, Україна : збірник праць конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2022. – С. 95-97. – Бібліогр.: 4 назви.