Justification of the method of determination of defects by using computer vision technology

dc.contributor.authorMastenko, Ihor
dc.contributor.authorStelmakh, Nataliia
dc.date.accessioned2022-07-21T09:15:33Z
dc.date.available2022-07-21T09:15:33Z
dc.date.issued2022
dc.format.pagerangeC. 52-53uk
dc.identifier.citationMastenko, I. Justification of the method of determination of defects by using computer vision technology / Mastenko, I. Stelmakh, N. // XХI Міжнародна науково-технічна конференція “Приладобудування: стан і перспективи”, 17–18 травня 2022 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2022. – С. 52–53. – Бібліогр.: 2 назви.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/49181
dc.language.isoenuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceXХI Міжнародна науково-технічна конференція “Приладобудування: стан і перспективи”, 17–18 травня 2022 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференціїuk
dc.subjectcomputer visionuk
dc.subjectmethodsuk
dc.subjectautomated productionuk
dc.subjectquality controluk
dc.subject.udc004.93.1uk
dc.titleJustification of the method of determination of defects by using computer vision technologyuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
PSP-XXI_2022_p52-53.pdf
Розмір:
141.62 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: