Установка для випробування високотемпературних тензорезисторів

dc.contributor.authorПогуляйко, О. М.
dc.contributor.authorПодобєд, О. В.
dc.date.accessioned2024-07-22T12:37:28Z
dc.date.available2024-07-22T12:37:28Z
dc.date.issued2024
dc.format.pagerangeP. 314-316
dc.identifier.citationПогуляйко, О. М. Установка для випробування високотемпературних тензорезисторів / О. М. Погуляйко, О. В. Подобєд // XХIII Міжнародна науково-технічна конференція "Приладобудування: стан і перспективи", 14–15 травня 2024 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2024. – С. 314-316.
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/68027
dc.language.isouk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорського
dc.publisher.placeКиїв
dc.relation.ispartofXХIII Міжнародна науково-технічна конференція "Приладобудування: стан і перспективи", 14–15 травня 2024 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції
dc.subjectтензорезистори
dc.subjectтензочутливість
dc.subjectтемпература
dc.subjectвимірювання
dc.subjectдеформація
dc.subject.udc620.174.25
dc.titleУстановка для випробування високотемпературних тензорезисторів
dc.typeArticle

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
314-316.pdf
Розмір:
157.02 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
8.98 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: