Аналіз методів оптичної спектроскопії для завдань контролю на базі вимірювання оптичних спектрів

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorДенисюк, В. Ю.
dc.date.accessioned2025-07-29T09:09:20Z
dc.date.available2025-07-29T09:09:20Z
dc.date.issued2025
dc.format.pagerangeС. 52-56
dc.identifier.citationДенисюк, В. Ю. Аналіз методів оптичної спектроскопії для завдань контролю на базі вимірювання оптичних спектрів / Денисюк В. Ю. // XXІV Міжнародна науково-технічна конференція "Приладобудування: стан і перспективи", 13-14 травня 2025 р., м. Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2025. – С. 52-56. – Бібліогр. 7 назв.
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/75288
dc.language.isouk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорського
dc.publisher.placeКиїв
dc.relation.ispartofХХІV Міжнародна науково-технічна конференція «Приладобудування: стан і перспективи», 13-14 травня 2025 р., Київ, Україна: збірник матеріалів конференції.
dc.subjectоптична спектроскопія
dc.subjectконтроль
dc.subjectспектральний метод
dc.subjectаналізатор спектру
dc.subjectвимірювання
dc.subject.udc681.758
dc.titleАналіз методів оптичної спектроскопії для завдань контролю на базі вимірювання оптичних спектрів
dc.typeArticle

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
52-56.pdf
Розмір:
443.77 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
8.98 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Приладобудування: стан і перспективи (24 ; 2025 ; Київ)