Прогнозування терміну надійної експлуатації інтегральних мікросхем радіотехнічних пристроїв
Вантажиться...
Дата
2014
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
НТУУ "КПІ"
Анотація
Опис
Ключові слова
верифікація елементів пам’яті, строк служби, інтегральні мікросхеми, прогнозування, атомно-силова мікроскопія, verification of memory cells, tenure of employment, integral microchips, prognostication, atomic-force microscopy, верификация ячеек памяти, срок службы, интегральные микросхемы, прогнозирование, атомно-силовая микроскопия
Бібліографічний опис
Прогнозування терміну надійної експлуатації інтегральних мікросхем радіотехнічних пристроїв / Андрієнко В. О., Іванченко В. В., Гончаров А. В., Скорина Є. В., Антонюк В. С. // Вісник НТУУ «КПІ». Приладобудування : збірник наукових праць. – 2014. – Вип. 48(2). – С. 125–130. – Бібліогр.: 8 назв.