Прогнозування терміну надійної експлуатації інтегральних мікросхем радіотехнічних пристроїв

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorАндрієнко, В. О.
dc.contributor.authorІванченко, В. В.
dc.contributor.authorГончаров, А. В.
dc.contributor.authorСкорина, Є. В.
dc.contributor.authorАнтонюк, В. С.
dc.contributor.authorAndrienko, V. O.
dc.contributor.authorIvanchenko, V. V.
dc.contributor.authorGoncharov, A. V.
dc.contributor.authorSkorina, E. V.
dc.contributor.authorAntonjuk, V. S.
dc.contributor.authorАндриенко, В. А.
dc.contributor.authorИванченко, В. В.
dc.contributor.authorГончаров, А. В.
dc.contributor.authorСкорина, Е. В.
dc.contributor.authorАнтонюк, В. С.
dc.date.accessioned2015-03-13T15:25:27Z
dc.date.available2015-03-13T15:25:27Z
dc.date.issued2014
dc.description.abstractenPurpose. Determination and prognostication of time of reliable exploitation of integral microchips of radiotechnical devices on the example of memory cells by realization of tests and exposure of reasons of its refuse by the method of atomic-force microscopy. Design/methodology/approach. First for the analysis of surface of integral microchips on the example of memory and prognostication of time cells its reliable exploitation the method of atomic-force microscopy, that allowed on the initial stage exploitations to determine the hidden microflaws (microcracks, pores and others like that) and diminishing of reliability of review, that can not be certain other analytical methods, is used. Findings. By means of the worked out complex of verify tests, time of faultless exploitation of memory (three years) cells is investigational, and the results of its tests present a permissible error with a mathematical model. Originality/value. Certain dependence of time of reliable exploitation of integral microchips of radiotechnical devices is on its external, state of surface of silicic chip and influences of environment environments. It is shown that during exploitation of integral microcchips in extreme terms takes place an increase over of mean values of inequalities, development of cracks that bring to the premature exit its from a line-up, that, in turn, results in worsening of functional properties of its elements.uk
dc.description.abstractruРазработана методика верификации интегральных микросхем на примере ячеек памяти с использованием тестов, хорошо коррелирующими с построенной математической зависимостью безотказности работы от времени эксплуатации таких элементов. Установлено, что возникновение ошибок в работе памяти связано с возникновением дефектов, сколов и ухудшения состояния поверхности ячеек памяти. Определена зависимость времени надежной эксплуатации интегральных микросхем радиотехнических устройств от условий их эксплуатации, состояния поверхности кремниевого чипа и влияний внешней среды. Показанная необходимость высокоточного и долговременного прогнозирования времени надежной эксплуатации интегральных микросхем, нашедших применение в устройствах, эксплуатирующихся во внештатном режиме в экстремальных условиях (системах управления атомных электростанций, самолетов, космических станций и тому подобное). Приведено преимущество использования метода атомно-силовой микроскопии в прогнозировании времени эксплуатации по сравнению с традиционными методами программного тестирования.uk
dc.description.abstractukЗапропонована методика верифікації інтегральних мікросхем на прикладі елементів пам’яті з використанням тестів, що добре корелює з побудованою математичною залежністю безвідмовності роботи від часу експлуатації таких елементів. Встановлено, що виникнення помилок в роботі пам’яті пов’язано з виникненням дефектів, сколів і погіршення стану поверхні елементів пам’яті. Визначена залежність часу надійної експлуатації інтегральних мікросхем радіотехнічних пристроїв від умов їх експлуатації, стану поверхні кремнієвого чипу та впливів зовнішнього середовища. Показана необхідність високоточного та довготривалого прогнозування часу надійної експлуатації інтегральних мікросхем, які знайшли застосування у пристроях, що експлуатуються в позаштатному режимі в екстремальних умовах (системах керування атомних електростанцій, літаків, космічних станцій тощо). Наведена перевага використання методу атомно-силової мікроскопії у прогнозуванні часу експлуатації в порівнянні з традиційними методами програмного тестування.uk
dc.format.pagerangeС. 125-130uk
dc.identifier.citationПрогнозування терміну надійної експлуатації інтегральних мікросхем радіотехнічних пристроїв / Андрієнко В. О., Іванченко В. В., Гончаров А. В., Скорина Є. В., Антонюк В. С. // Вісник НТУУ «КПІ». Приладобудування : збірник наукових праць. – 2014. – Вип. 48(2). – С. 125–130. – Бібліогр.: 8 назв.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/10888
dc.language.isoukuk
dc.publisherНТУУ "КПІ"uk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.source.nameВісник НТУУ «КПІ». Приладобудування: збірник наукових працьuk
dc.status.pubpublisheduk
dc.subjectверифікація елементів пам’ятіuk
dc.subjectстрок службиuk
dc.subjectінтегральні мікросхемиuk
dc.subjectпрогнозуванняuk
dc.subjectатомно-силова мікроскопіяuk
dc.subjectverification of memory cellsuk
dc.subjecttenure of employmentuk
dc.subjectintegral microchipsuk
dc.subjectprognosticationuk
dc.subjectatomic-force microscopyuk
dc.subjectверификация ячеек памятиuk
dc.subjectсрок службыuk
dc.subjectинтегральные микросхемыuk
dc.subjectпрогнозированиеuk
dc.subjectатомно-силовая микроскопияuk
dc.subject.udc519.718.2uk
dc.titleПрогнозування терміну надійної експлуатації інтегральних мікросхем радіотехнічних пристроївuk
dc.title.alternativePrognostication of time of reliable exploitation of integral microcircuits of radiotechnical devicesuk
dc.title.alternativeПрогнозирование времени надежной эксплуатации интегральных микросхем радиотехнических устройствuk
dc.typeArticleuk
thesis.degree.level-uk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
r_7_1.pdf
Розмір:
261.79 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Вісник НТУУ «КПІ». Приладобудування: збірник наукових праць, Вип. 48(2)