Оптичні характеристики багатошарових наноструктур на основі SiO_2 та Ta_2O_5 для внутрішньорезонаторного керування випромінюванням
Вантажиться...
Дата
2026
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
У роботі виконано комплексне теоретичне, методом матриць розсіяння, та експериментальне дослідження оптичних властивостей метало‑діелектричних багатошарових наноструктур на основі дзеркал Брэгга SiO_2/Ta_2O_5 з ультратонкими прошарками хрому. Проаналізовано вплив геометричних параметрів структури, зокрема товщини металевого шару Cr та початкового діелектричного шару, на умови збудження резонансів Фано та оптичних станів Тамма у конфігураціях смугових (PBF) і режекторних (SBF) фільтрів. Показано, щ о введення нанометричних прошарків хрому призводить до формування вузьких зон поглинання у спектрах відбиття, зумовлених локалізацією електромагнітного поля на межі розділу середовищ та гібридизацією резонансних мод. Чисельні розрахунки підтверджено експериментальними спектральними та кутовими вимірюваннями, які продемонстрували високу стабільність і прогностичну точність застосованого S‑матричного алгоритму. Встановлено, що розроблені наноструктури характеризуються високою кутовою селективністю та добротністю резонансів, що відкриває можливості їх використання як ефективних елементів внутрішньорезонаторного керування спектральними та просторовими характеристиками лазерного випромінювання.
Опис
Ключові слова
Оптичні стани Тамма, резонанс Фано, дзеркало Брэгга, SiO_2/ Ta_2O_5, багатошарові наноструктури, S‑матричний метод, кутова селективність, внутрішньорезонаторне керування
Бібліографічний опис
Оптичні характеристики багатошарових наноструктур на основі SiO_2 та Ta_2O_5 для внутрішньорезонаторного керування випромінюванням / В. В. Панасюк, В. В. Іванова, С. Г. Ільченко, В. Б. Тараненко // Теоретичні і прикладні проблеми фізики, математики та інформатики : матеріали XXIV Всеукраїнської науково-практичної конференції студентів, аспірантів та молодих вчених, [Київ], 13–16 травня 2026 р. / КПІ ім. Ігоря Сікорського. – Київ, 2026. – С. 68-73.