Підвищення точності вимірювання дефектів клейових з’єднань оптичних деталей шляхом дослідження ППЗ-матриці оптико-електронної системи
Вантажиться...
Дата
2020-12
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
Опис
Ключові слова
ПЗЗ матриця, оптико-електронна вимірювальна система, CCD matrix, optoelectronic measuring system
Бібліографічний опис
Коваленко, П. Р. Підвищення точності вимірювання дефектів клейових з’єднань оптичних деталей шляхом дослідження ППЗ-матриці оптико-електронної системи : магістерська дис. : 152 Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка / Коваленко Павло Ромуальдович. – Київ, 2020. – 98 с.