System for definition of defect’s coordinate

dc.contributor.authorSyeryy, K. M.
dc.date.accessioned2020-05-18T08:35:07Z
dc.date.available2020-05-18T08:35:07Z
dc.date.issued2020-05
dc.format.pagerangeC. 139-141uk
dc.identifier.citationSyeryy, K. M. System for definition of defect’s coordinate / Syeryy K. M. // XІХ Міжнародна науково-технічна конференція «Приладобудування: стан і перспективи», 13-14 травня 2020 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – С. 139-141. – Бібліогр.: 5 назв.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/33558
dc.language.isoenuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceXІХ Міжнародна науково-технічна конференція «Приладобудування: стан і перспективи», 13-14 травня 2020 р., Київ, Україна: збірник матеріалів конференції.uk
dc.subjectnon-destructive testinguk
dc.subjectscanning systemsuk
dc.subjectphoto receiveruk
dc.subject.udc621.190uk
dc.titleSystem for definition of defect’s coordinateuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
P.139-141.pdf
Розмір:
218.81 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.06 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: