Визначення показників надійності радіоелектронних апаратів, що обумовлюються тепловими режимами
dc.contributor.author | Уваров, Борис Михайлович | |
dc.contributor.author | Нікітчук, А. В. | |
dc.contributor.author | Uvarov, B. M. | |
dc.contributor.author | Nikitchuk, A. V. | |
dc.date.accessioned | 2015-12-15T12:59:28Z | |
dc.date.available | 2015-12-15T12:59:28Z | |
dc.date.issued | 2014 | |
dc.description.abstracten | Statement of the problem. The reliability is important (and sometimes crucial) functional characteristic for RED. So it is necessary to analyze the impact on them of destabilizing external factors - mechanical, temperature, humidity, ionizing radiation. Structural-design elements REA. SCM are the main objects for which you first need to de-termine the temperature of the ЕЕS and performance reliability. Determination of the temperature of the EES cells and microassemblies. The basic mathematical models are presented to determine the temperatures of the electronic structure elements of cells and microassemblies. Indicators of HEE reliability as a function of their temperature. The value of the operational failure rate of most groups RED calculated by mathematical models. These indicators include: basic failure rate, the rate regime, the coefficients that take into account changes in operational failure rate depending on various factors. Software definition of reliability parameters. The software product allows you to switch from "manual" calculation reliability REDs to a fully automated modeling components. The program is applicable for calculating the reliability and to find a more "sustainable" elements to increase the probability of failure-free operation. Conclusions. Primary tasks performed in the work are listed. | uk |
dc.description.abstractru | В работе рассмотрены основные характеристики показателей надежности радиоэлектронных средств (РЭС), методы их расчета. Предложены математические модели для определения параметров теплового поля и получены аналитические решения для расчетов температур в микросборках, учитывающие отвод теплоты со всех поверхностей пластины-основы к окружающему ее объему. Описан комплексный программный модуль для расчетов температур элементов электронной структуры, установленных на основе микросборки, и показателей ее надежности. | uk |
dc.description.abstractuk | У роботі розглянуто основні характеристики показників надійності радіоелектронних засобів (РЕЗ), методи їх розрахунку. Запропоновані математичні моделі для визначення параметрів теплового поля та одержані аналітичні рішення для розрахунків температур у мікрозбірках, які враховують відвід теплоти з усіх поверхонь пластини основи до оточуючого її об’єму. Описаний комплексний програмний модуль для розрахунків температур елементів електронної структури, встановлених на основі мікрозбірки, та показників її надійності. | uk |
dc.format.pagerange | С. 92-103 | uk |
dc.identifier.citation | Уваров, Б. М. Визначення показників надійності радіоелектронних апаратів, що обумовлюються тепловими режимами / Б. М. Уваров, А. В. Нікітчук // Вісник НТУУ «КПІ». Радіотехніка, радіоапаратобудування : збірник наукових праць. – 2014. – № 57. – С. 92-103. – Бібліогр.: 5 назв. | uk |
dc.identifier.uri | https://ela.kpi.ua/handle/123456789/14338 | |
dc.language.iso | uk | uk |
dc.publisher | НТУУ «КПІ» | uk |
dc.publisher.place | Київ | uk |
dc.source | Вісник НТУУ «КПІ». Радіотехніка, радіоапаратобудування: збірник наукових праць | uk |
dc.status.pub | published | uk |
dc.subject | надійність | uk |
dc.subject | РЕЗ | uk |
dc.subject | відмова | uk |
dc.subject | мікрозбірка | uk |
dc.subject | теплове поле | uk |
dc.subject | тепло | uk |
dc.subject | показники надійності | uk |
dc.subject | автоматизація | uk |
dc.subject | розрахунок надійності | uk |
dc.subject | reliability | uk |
dc.subject | RED | uk |
dc.subject | failure | uk |
dc.subject | microassembly | uk |
dc.subject | thermal field | uk |
dc.subject | heat | uk |
dc.subject | failure rate | uk |
dc.subject | reliability particular | uk |
dc.subject | automation | uk |
dc.subject | reliability calculation | uk |
dc.subject | надежность | uk |
dc.subject | РЭС | uk |
dc.subject | отказ | uk |
dc.subject | микросборка | uk |
dc.subject | тепловое поле | uk |
dc.subject | тепло | uk |
dc.subject | интенсивность отказов | uk |
dc.subject | показатели надежности | uk |
dc.subject | автоматизация | uk |
dc.subject | расчет надежности | uk |
dc.subject.udc | 531/534(075.8) | uk |
dc.title | Визначення показників надійності радіоелектронних апаратів, що обумовлюються тепловими режимами | uk |
dc.title.alternative | Determination of reliability parameters of radioelectronic devices determined by thermal modes | uk |
dc.type | Article | uk |
thesis.degree.level | - | uk |
Файли
Контейнер файлів
1 - 1 з 1
Ліцензійна угода
1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 1.71 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: