Підвищення діагностичних можливостей методу деформаційних залежностей повної інтегральної інтенсивності динамічної дифракції для випадку динамічного «тонкого» кристалу
Вантажиться...
Дата
2023
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
У цій статті розглядались зразки монокристалів Si з різними дефектними структурами у наближенні динамічно «тонкого» кристалу. Було встановлено зв’язок між параметрами деформаційної залежності дифузної складової повної інтегральної інтенсивності динамічної дифракції та характеристиками мікродефектів.
Опис
Ключові слова
дифракція, кристали з мікродефектами, динамічна дифракція, повна інтегральна інтенсивність, деформаційна залежність
Бібліографічний опис
Підвищення діагностичних можливостей методу деформаційних залежностей повної інтегральної інтенсивності динамічної дифракції для випадку динамічного «тонкого» кристалу / А. Д. Шокун, Г. І. Низкова, А. О. Білоцька, О. С. Кононенко, І. І. Демчик, Л. І. Макаренко, А. А. Катасонов, В. В. Молодкін, В. В. Лізунов // XXI Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Теоретичні і прикладні проблеми фізики, математики та інформатики» (Україна, м. Київ, 11-12 травня 2023 р.) : матеріали конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2023. – С. 80-82.