Підвищення діагностичних можливостей методу деформаційних залежностей повної інтегральної інтенсивності динамічної дифракції для випадку динамічного «тонкого» кристалу

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorШокун, А. Д.
dc.contributor.authorНизкова, Г. І.
dc.contributor.authorБілоцька, А. О.
dc.contributor.authorКононенко, О. С.
dc.contributor.authorДемчик, І. І.
dc.contributor.authorМакаренко, Л. І.
dc.contributor.authorКатасонов, А. А.
dc.contributor.authorМолодкін, В. В.
dc.contributor.authorЛізунов, В. В.
dc.date.accessioned2023-11-21T13:02:00Z
dc.date.available2023-11-21T13:02:00Z
dc.date.issued2023
dc.description.abstractУ цій статті розглядались зразки монокристалів Si з різними дефектними структурами у наближенні динамічно «тонкого» кристалу. Було встановлено зв’язок між параметрами деформаційної залежності дифузної складової повної інтегральної інтенсивності динамічної дифракції та характеристиками мікродефектів.uk
dc.format.pagerangeС. 80-82uk
dc.identifier.citationПідвищення діагностичних можливостей методу деформаційних залежностей повної інтегральної інтенсивності динамічної дифракції для випадку динамічного «тонкого» кристалу / А. Д. Шокун, Г. І. Низкова, А. О. Білоцька, О. С. Кононенко, І. І. Демчик, Л. І. Макаренко, А. А. Катасонов, В. В. Молодкін, В. В. Лізунов // XXI Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Теоретичні і прикладні проблеми фізики, математики та інформатики» (Україна, м. Київ, 11-12 травня 2023 р.) : матеріали конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2023. – С. 80-82.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/62354
dc.language.isoukuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.relation.ispartofXXI Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Теоретичні і прикладні проблеми фізики, математики та інформатики» (Україна, м. Київ, 11-12 травня 2023 р.) : матеріали конференціїuk
dc.subjectдифракціяuk
dc.subjectкристали з мікродефектамиuk
dc.subjectдинамічна дифракціяuk
dc.subjectповна інтегральна інтенсивністьuk
dc.subjectдеформаційна залежністьuk
dc.titleПідвищення діагностичних можливостей методу деформаційних залежностей повної інтегральної інтенсивності динамічної дифракції для випадку динамічного «тонкого» кристалуuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
(80-82)_Shokun.pdf
Розмір:
191.71 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Актуальнi проблеми сучасної фiзики