Вимірювання п’єзоелектричних характеристик діодних структур на векторному аналізаторі «Обзор-103»
Вантажиться...
Дата
2020
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
В роботі наведено результати дослідження напівпровідникових плівкових гетеро структур CdS-Cu2S
та CdS-ZnS-Cu2S методом резонансу-антирезонансу. Виміри амплітудно-частотних характеристик було виконано
за допомогою векторного аналізатору «Обзор-103». Викладена методика дослідження з використанням векторного
аналізатору «Обзор-103». На основі визначених значень частот резонансу та антирезонансу зроблено розрахунки
добротності досліджених гетеро структур та величини ємностей. Найбільші значення добротностей (~62) отримано
для гетеро структури CdS-ZnS-Cu2S. Проведено аналіз отриманих результатів.
Опис
Ключові слова
амплітудно-частотні характеристики, напівпровідникові плівки, гетероструктури, п’єзоелектричні властивості, amplitude-frequency characteristics, semiconductor films, heterostructures, piezoelectric properties
Бібліографічний опис
Цибульський, О. С. Вимірювання п’єзоелектричних характеристик діодних структур на векторному аналізаторі «Обзор-103» / Цибульський О. С., Клименко В. А., Семікіна Т. В. // Електронна та Акустична Інженерія : науково-технічний журнал. – 2020. – Т. 3, № 4. – С. 5-9. – Бібліогр.: 10 назв.