Використання електронно-оптичних дефектоскопів у неруйнівному контролі
Вантажиться...
Дата
2020
Автори
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
Опис
Ключові слова
дефектоскопія, неруйнівний контроль, електронно-оптичний дефектоскоп, дефект
Бібліографічний опис
Мамчур, Н. Д. Використання електронно-оптичних дефектоскопів у неруйнівному контролі / Н. Д. Мамчур // ХIII Науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Погляд у майбутнє приладобудування», 13-14 травня 2020 р., м. Київ, Україна : збірник праць конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – С. 273-276. – Бібліогр.: 7 назв.