Використання електронно-оптичних дефектоскопів у неруйнівному контролі
dc.contributor.author | Мамчур, Наталія Дмитрівна | |
dc.date.accessioned | 2020-07-08T12:08:23Z | |
dc.date.available | 2020-07-08T12:08:23Z | |
dc.date.issued | 2020 | |
dc.description.abstracten | The paper considers modern electro-optical flaw detectors, their parameters, scope and prospects of application. Article contains an analysis of electro-optical flaw detector capabilities, also identifies its main advantages and disadvantages. Examples of electro-optical flaw detectors using in the modern world are given. | uk |
dc.description.abstractru | В работе рассмотрены современные электронно-оптические дефектоскопы, их параметры, сферы и перспективы применения. Статья содержит анализ возможностей дефектоскопа, также определены его основные преимущества и недостатки. Приведены примеры использования электронно-оптических дефектоскопов в современном мире. | uk |
dc.description.abstractuk | У роботі розглянуті сучасні електронно-оптичні дефектоскопи, їх параметри, сфери та перспективи застосування. Стаття містить аналіз можливостей дефектоскопа, також визначені його основні переваги та недоліки. Наведено приклади використання електронно-оптичних дефектоскопів у сучасному світі. | uk |
dc.format.pagerange | С. 273-276 | uk |
dc.identifier.citation | Мамчур, Н. Д. Використання електронно-оптичних дефектоскопів у неруйнівному контролі / Н. Д. Мамчур // ХIII Науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Погляд у майбутнє приладобудування», 13-14 травня 2020 р., м. Київ, Україна : збірник праць конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – С. 273-276. – Бібліогр.: 7 назв. | uk |
dc.identifier.uri | https://ela.kpi.ua/handle/123456789/34896 | |
dc.language.iso | uk | uk |
dc.publisher | КПІ ім. Ігоря Сікорського | uk |
dc.publisher.place | Київ | uk |
dc.source | ХIII Науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Погляд у майбутнє приладобудування», 13-14 травня 2020 р., м. Київ, Україна : збірник праць конференції | uk |
dc.subject | дефектоскопія | uk |
dc.subject | неруйнівний контроль | uk |
dc.subject | електронно-оптичний дефектоскоп | uk |
dc.subject | дефект | uk |
dc.subject.udc | 620.179.1 | uk |
dc.title | Використання електронно-оптичних дефектоскопів у неруйнівному контролі | uk |
dc.type | Article | uk |
Файли
Контейнер файлів
1 - 1 з 1
Вантажиться...
- Назва:
- P. 273-276.pdf
- Розмір:
- 482.98 KB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
- Опис:
- materialy_konferentsii
Ліцензійна угода
1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 9.06 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: