Використання електронно-оптичних дефектоскопів у неруйнівному контролі

dc.contributor.authorМамчур, Наталія Дмитрівна
dc.date.accessioned2020-07-08T12:08:23Z
dc.date.available2020-07-08T12:08:23Z
dc.date.issued2020
dc.description.abstractenThe paper considers modern electro-optical flaw detectors, their parameters, scope and prospects of application. Article contains an analysis of electro-optical flaw detector capabilities, also identifies its main advantages and disadvantages. Examples of electro-optical flaw detectors using in the modern world are given.uk
dc.description.abstractruВ работе рассмотрены современные электронно-оптические дефектоскопы, их параметры, сферы и перспективы применения. Статья содержит анализ возможностей дефектоскопа, также определены его основные преимущества и недостатки. Приведены примеры использования электронно-оптических дефектоскопов в современном мире.uk
dc.description.abstractukУ роботі розглянуті сучасні електронно-оптичні дефектоскопи, їх параметри, сфери та перспективи застосування. Стаття містить аналіз можливостей дефектоскопа, також визначені його основні переваги та недоліки. Наведено приклади використання електронно-оптичних дефектоскопів у сучасному світі.uk
dc.format.pagerangeС. 273-276uk
dc.identifier.citationМамчур, Н. Д. Використання електронно-оптичних дефектоскопів у неруйнівному контролі / Н. Д. Мамчур // ХIII Науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Погляд у майбутнє приладобудування», 13-14 травня 2020 р., м. Київ, Україна : збірник праць конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – С. 273-276. – Бібліогр.: 7 назв.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/34896
dc.language.isoukuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceХIII Науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Погляд у майбутнє приладобудування», 13-14 травня 2020 р., м. Київ, Україна : збірник праць конференціїuk
dc.subjectдефектоскопіяuk
dc.subjectнеруйнівний контрольuk
dc.subjectелектронно-оптичний дефектоскопuk
dc.subjectдефектuk
dc.subject.udc620.179.1uk
dc.titleВикористання електронно-оптичних дефектоскопів у неруйнівному контроліuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
P. 273-276.pdf
Розмір:
482.98 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
materialy_konferentsii
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.06 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: