Покращення зворотних характеристик діода Шотткі з охоронним кільцем

Вантажиться...
Ескіз

Дата

2013

Науковий керівник

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

НТУУ "КПИ"

Анотація

Опис

Ключові слова

гетерування, діод Шотткі, оптимізація, охоронне кільце, структурні дефекти, домішки, gettering, diode Schottky, optimization, safety ring, structural defects, impurities, геттерирования, диод Шоттки, оптимизация, охранное кольцо, структурные дефекты, примеси

Бібліографічний опис

Покращення зворотних характеристик діода Шотткі з охоронним кільцем / М. В. Богач, П. Л. Бежан, В. М. Литвиненко [та ін.] // Electronics and Communications : научно-технический журнал. – 2013. – № 4(75). – С. 9–13. – Библиогр.: 4 назв.

DOI