Дослідження параметрів спектрів та сигналів від пристроїв та інтерфейсів автоматизованих систем
Вантажиться...
Дата
2025
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
У роботі досліджено проблему технічного витоку інформації через електромагнітне випромінювання (ЕМВ), що виникає внаслідок побічного випромінювання пристроїв автоматизованих систем. Проведено теоретичний аналіз фізичних принципів формування ЕМВ та його здатності передавати конфіденційну інформацію. Виконано класифікацію потенційних джерел витоку за типом пристрою, режимом роботи та конструктивними характеристиками. Увагу зосереджено на зонах підвищеної ймовірності витоку з урахуванням просторового розміщення, заземлення та типів інтерфейсів. Розглянуто методи аналізу сигналів (спектральні, фільтраційні) і технічні засоби зменшення побічного ЕМВ. Узагальнено підходи до зниження витоків через екранування, фільтрацію живлення, вдосконалення схемотехніки та організаційні заходи. Результати можуть бути використані при проєктуванні захищених автоматизованих систем і формуванні технічних вимог до їх інформаційної безпеки.
Опис
Ключові слова
електромагнітний витік, побічне випромінювання, технічний захист інформації, спектральний аналіз, автоматизовані системи
Бібліографічний опис
Пахнюк, І. О. Дослідження параметрів спектрів та сигналів від пристроїв та інтерфейсів автоматизованих систем / І. О. Пахнюк, В. М. Бездітний, Є. А. Зайцев // Теоретичні і прикладні проблеми фізики, математики та інформатики : матерiали XXIII Всеукраїнської науково-практичної конференцiї студентiв, аспiрантiв та молодих вчених, [Київ], 14−17 травня 2025 р. / КПІ ім. Ігоря Сікорського. – Київ, 2025. – С. 144-146.