Дослідження параметрів спектрів та сигналів від пристроїв та інтерфейсів автоматизованих систем

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorПахнюк, І. О.
dc.contributor.authorБездітний, В. М.
dc.contributor.authorЗайцев, Є. А.
dc.date.accessioned2026-05-28T09:16:31Z
dc.date.available2026-05-28T09:16:31Z
dc.date.issued2025
dc.description.abstractУ роботі досліджено проблему технічного витоку інформації через електромагнітне випромінювання (ЕМВ), що виникає внаслідок побічного випромінювання пристроїв автоматизованих систем. Проведено теоретичний аналіз фізичних принципів формування ЕМВ та його здатності передавати конфіденційну інформацію. Виконано класифікацію потенційних джерел витоку за типом пристрою, режимом роботи та конструктивними характеристиками. Увагу зосереджено на зонах підвищеної ймовірності витоку з урахуванням просторового розміщення, заземлення та типів інтерфейсів. Розглянуто методи аналізу сигналів (спектральні, фільтраційні) і технічні засоби зменшення побічного ЕМВ. Узагальнено підходи до зниження витоків через екранування, фільтрацію живлення, вдосконалення схемотехніки та організаційні заходи. Результати можуть бути використані при проєктуванні захищених автоматизованих систем і формуванні технічних вимог до їх інформаційної безпеки.
dc.format.pagerangeС. 144-146
dc.identifier.citationПахнюк, І. О. Дослідження параметрів спектрів та сигналів від пристроїв та інтерфейсів автоматизованих систем / І. О. Пахнюк, В. М. Бездітний, Є. А. Зайцев // Теоретичні і прикладні проблеми фізики, математики та інформатики : матерiали XXIII Всеукраїнської науково-практичної конференцiї студентiв, аспiрантiв та молодих вчених, [Київ], 14−17 травня 2025 р. / КПІ ім. Ігоря Сікорського. – Київ, 2025. – С. 144-146.
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/81278
dc.language.isouk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорського
dc.publisher.placeКиїв
dc.relation.ispartofТеоретичні і прикладні проблеми фізики, математики та інформатики : матерiали XXIII Всеукраїнської науково-практичної конференцiї студентiв, аспiрантiв та молодих вчених, 14−17 травня 2025 р., м. Київ, Україна
dc.subjectелектромагнітний витік
dc.subjectпобічне випромінювання
dc.subjectтехнічний захист інформації
dc.subjectспектральний аналіз
dc.subjectавтоматизовані системи
dc.subject.udc4.6
dc.titleДослідження параметрів спектрів та сигналів від пристроїв та інтерфейсів автоматизованих систем
dc.typeArticle

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
(144-146)_SectionPhysTechZas_Pakhniuk.pdf
Розмір:
864.16 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Full Text
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.04 KB
Формат:
Plain Text
Опис:
Завантажити

Зібрання

Теоретичні і прикладні проблеми фізики, математики та інформатики (23 ; 2025 ; Київ)