Электротепловой анализ мощных субмикронных полевых гетеротранзисторов на основе нитрида галлия
dc.contributor.author | Тимофеев, Владимир Иванович | ru |
dc.contributor.author | Семеновская, Елена Владимировна | ru |
dc.contributor.author | Фалеева, Елена Михайловна | ru |
dc.contributor.author | Timofeyev, Vladimir I. | en |
dc.contributor.author | Semenovskaya, Elena V. | en |
dc.contributor.author | Falieieva, Olena M. | en |
dc.date.accessioned | 2016-11-02T10:24:51Z | |
dc.date.available | 2016-11-02T10:24:51Z | |
dc.date.issued | 2016 | |
dc.description | Полный текст доступен на сайте издания по подписке: http://radio.kpi.ua/article/view/S0021347016020035 | ru |
dc.description.abstracten | Physical processes and self-heating factors of in a power submicron field-effect heterotransistor have been considered. Mathematical models were proposed and the electrothermal analysis of heterotransistor parameters and characteristics was performed. The impact of thermal processes on parameters of the circuit model and the output frequency characteristics of submicron heterotransistor was shown on the basis of analysis of temperature fields. The relationship of the transistor thermal resistance as a function of its geometry and thermophysical parameters has been established. | en |
dc.description.abstractru | Рассмотрены физические процессы и факторы саморазогрева в мощном субмикронном полевом гетеротранзисторе. Предложены математические модели и проведен электротепловой анализ параметров и характеристик гетеротранзистора. На основе анализа температурных полей показано влияние тепловых процессов на параметры схемной модели и выходные частотные характеристики субмикронного гетеротранзистора. Установлена зависимость теплового сопротивления транзистора от его геометрических и теплофизических параметров. | ru |
dc.identifier.citation | Тимофеев, В. И. Электротепловой анализ мощных субмикронных полевых гетеротранзисторов на основе нитрида галлия / В. И. Тимофеев, Е. В. Семеновская, Е. М. Фалеева // Известия высших учебных заведений. Радиоэлектроника. – 2016. – Т. 59, № 2 (644): Наноэлектроника. – C. 23–32. – Библиогр.: 18 назв. | ru |
dc.identifier.doi | https://doi.org/10.20535/S0021347016020035 | |
dc.identifier.uri | https://ela.kpi.ua/handle/123456789/17943 | |
dc.language.iso | ru | uk |
dc.publisher | НТУУ «КПИ» | ru |
dc.publisher.place | Киев | uk |
dc.source | Известия высших учебных заведений. Радиоэлектроника, 2016, Т. 59, № 2 (644): Наноэлектроника | ru |
dc.status.pub | published | uk |
dc.subject | субмикронный гетероструктурный транзистор | ru |
dc.subject | нитрид галлия | ru |
dc.subject | тепловые поля | ru |
dc.subject | эффект саморазогрева | ru |
dc.subject | частотные характеристики усиления | ru |
dc.subject | submicron heterostructure transistor | en |
dc.subject | gallium nitride | en |
dc.subject | thermal fields | en |
dc.subject | self-heating effect | en |
dc.subject | gain frequency characteristics | en |
dc.subject.udc | 621.382.323 | uk |
dc.title | Электротепловой анализ мощных субмикронных полевых гетеротранзисторов на основе нитрида галлия | ru |
dc.title.alternative | Electrothermal analysis of GaN power submicron field-effect heterotransistors | en |
dc.type | Article | uk |
Файли
Контейнер файлів
1 - 1 з 1
Вантажиться...
- Назва:
- 2016-02-23.pdf
- Розмір:
- 56.82 KB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
- Опис:
- Первая страница
Ліцензійна угода
1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 7.71 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: