Analysis of neural networks efficiency in active thermal defectometry depending on the number of thermograms

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorMomot, A. S.
dc.date.accessioned2020-05-17T20:52:20Z
dc.date.available2020-05-17T20:52:20Z
dc.date.issued2020-05
dc.format.pagerangeC. 132uk
dc.identifier.citationMomot, A. S. Analysis of neural networks efficiency in active thermal defectometry depending on the number of thermograms / Momot A. S. // XІХ Міжнародна науково-технічна конференція «Приладобудування: стан і перспективи», 13-14 травня 2020 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – С. 132. – Бібліогр.: 2 назви.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/33552
dc.language.isoenuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceXІХ Міжнародна науково-технічна конференція «Приладобудування: стан і перспективи», 13-14 травня 2020 р., Київ, Україна: збірник матеріалів конференції.uk
dc.subjectnondestructive testinguk
dc.subjectneural networksuk
dc.subjectthermal defectometryuk
dc.subject.udc004.89uk
dc.titleAnalysis of neural networks efficiency in active thermal defectometry depending on the number of thermogramsuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
P.132.pdf
Розмір:
169.54 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.06 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Секція 7. Неруйнівний контроль, технічна та медична діагностика, підготовка фахівців галузі