Особливості застосування нанотехнологій зондової мікроскопії в діагностиці та направленій модифікації поверхонь напівпровідникових наноструктур і 2D матеріалів
Вантажиться...
Дата
2022
Автори
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Анотація
Опис
Ключові слова
скануюча зондова мікроскопія, атомно-силова мікроскопія, атомно-силова спектроскопія, провідна атомно-силова мікроскопія, силова Кельвінзонд мікроскопія, скануюча мікроскопія опору розтікання, скануюча ємнісна мікроскопія, нанопористі вуглецеві плівки, напівпровідникові синтетичні алмази, GeSn, станогерманиди, scanning probe microscopy, atomic force microscopy, atomic force spectroscopy, conducting atomic force microscopy, Kelvin probe force microscopy, scanning spreading resistance microscopy, scanning capacitive microscopy, nanoporous carbon films, semiconducting synthetic diamonds
Бібліографічний опис
Малюта, С. В. Особливості застосування нанотехнологій зондової мікроскопії в діагностиці та направленій модифікації поверхонь напівпровідникових наноструктур і 2D матеріалів : дис. … д-ра філософії : 153 – Мікро- та наносистемна техніка / Малюта Сергій Васильович. – Київ, 2022. – 156 с.