Програмно-апаратний комплекс з дослідження характеристик напівпровідникових діодів

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.advisorКоролевич, Любомир Миколайович
dc.contributor.authorГончаров, Артем Володимирович
dc.date.accessioned2023-03-01T09:21:04Z
dc.date.available2023-03-01T09:21:04Z
dc.date.issued2022
dc.description.abstractenThe purpose of scientific research is to create a program for measuring the VAC of a semiconductor diode by simulation and changes in characteristics using the Lab View software package. The object of research is the process of adjusting the characteristics for measuring the diode's VAC under different circumstances (at varying temperatures). The subject of the study is the algorithm for determining the current and voltage using the environment and tools of the Lab View package. The results of the work are: 1. study of the principle of action on the diode's VAC at the change of characteristics; 2. study of the condition of correct measurement of the diode VAC under the influence of temperature; 3. development of the algorithm for measuring the VAC diode in the LabView software environment.uk
dc.description.abstractukМетою наукового дослідження є створення програми для виміру ВАХ напівпровідникового діоду методом симуляції і змін характеристик за допомогою пакету програм Lab View. Об’єктом дослідження є процес налаштування характеристик для виміру ВАХ діода за різними обставинами (при змінні температури). Предметом дослідження є алгоритм визначення струмі і напруги з використанням середовища та інструментальних можливостей пакету Lab View. Результатом роботи є: 1. дослідження принципу дії на ВАХ діоду при зміні характеристик; 2. дослідження умови вірного вимірювання ВАХ діоду під дією температури; 3. розроблення алгоритму вимірювання ВАХ діоду в середовищі програмного продукту LabView. Галузь застосування: мікроелектроніка.uk
dc.format.page70 c.uk
dc.identifier.citationГончаров, А. В. Програмно-апаратний комплекс з дослідження характеристик напівпровідникових діодів : магістерська дис. : 153 Мікро- та наносистемна техніка / Гончаров Артем Володимирович. – Київ, 2022. – 70 с.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/53202
dc.language.isoukuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.subjectвольт амперна характеристика (ВАХ)uk
dc.subjectp-n перехідuk
dc.subjectвалентна зонаuk
dc.subjectзона провідностіuk
dc.subjectенергетична зонаuk
dc.subjectдонорні та акцепторні домішкиuk
dc.titleПрограмно-апаратний комплекс з дослідження характеристик напівпровідникових діодівuk
dc.typeMaster Thesisuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Honcharov_magistr.pdf
Розмір:
2.12 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.1 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Магістерські роботи (МЕ)
Магістерські роботи