Виявлення демаскуючих ознак стеганограм, сформованих на основі сингулярного розкладу матриць цифрових зображень

dc.contributor.authorГолубничий, В. О.
dc.contributor.authorПрогонов, Д. О.
dc.contributor.authorКущ, С. М.
dc.date.accessioned2021-03-22T11:56:05Z
dc.date.available2021-03-22T11:56:05Z
dc.date.issued2015
dc.description.abstractenThe paper is devoted to analysis of alteration the statistical parameters of image quality metrics for empty and filled cover images by separate color channel processing with usage of median, Wiener and Gaussian filtering. Based on obtained results, there are formed the clusters in feature space for cover and stego images, which allow discerning the presenceuk
dc.description.abstractruВ работе проведены исследования изменения статистических параметров метрик качества чистых и заполненных контейнеров при обработке отдельных каналов цвета цифровых изображений с использованием медианной, винеровской и гауссовской фи льтрации. За результатами проведенного анализа сформированы кластеры признаков чистых контейнеров и стеганограмм, на основании которых возможно распознавание наличия стегоданных в цифровых изображениях.uk
dc.description.abstractukВ роботі досліджені зміни статистичних параметрів метрик якості чистих та запо внених контейнерів при обробці окремих каналів кольору цифрових зображень з вико ристанням медіанної, вінеровської та гаусівської фільтрації. За результатами проведе ного аналізу сформовані кластери ознак чистих контейнерів та стеганограм, на основі котрих можливе розпізнавання наявності стегоданих у цифрових зображеннях.uk
dc.format.pagerangeС. 259–261uk
dc.identifier.citationГолубничий, В. О. Виявлення демаскуючих ознак стеганограм, сформованих на основі сингулярного розкладу матриць цифрових зображень / Голубничий В. О., Прогонов Д. О., Кущ С. М. // Міжнародна науково-технічна конференція «Радіотехнічні поля, сигнали, апарати та системи» : матеріали конференції 16–22 березня 2015 р., м. Київ, Україна / КПІ ім. Ігоря Сікорського, РТФ. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2015. – С. 259–261. – Бібліогр.: 6 назв.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/40130
dc.language.isoukuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceМіжнародна науково-технічна конференція «Радіотехнічні поля, сигнали, апарати та системи» : матеріали конференції, 16–22 березня 2015 р., м. Київ, Українаuk
dc.subjectпасивний стегоаналізuk
dc.subjectметрики якості зображеньuk
dc.subjectpassive steganalysisuk
dc.subjectimage quality metricsuk
dc.subjectпассивный стегоанализuk
dc.subjectметрики качества изображенийuk
dc.titleВиявлення демаскуючих ознак стеганограм, сформованих на основі сингулярного розкладу матриць цифрових зображеньuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
RTPSAS_2015_s8_t02.pdf
Розмір:
296.66 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.01 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: