Фізичні основи надійності. Конспект лекцій

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorДіденко, Юрій Вікторович
dc.contributor.authorТатарчук, Дмитро Дмитрович
dc.contributor.authorБакунцев, Олександр Васильович
dc.date.accessioned2019-05-25T14:40:26Z
dc.date.available2019-05-25T14:40:26Z
dc.date.issued2019
dc.description.abstractenThe aging of electronic products as a thermodynamic process, the conditions of thermodynamic processes and the kinetic equation of nonequilibrium thermodynamics, aging mechanisms associated with the redistribution of matter, the influence of the nature of the material of the product and its operating conditions on the speed of these processes, the chemical nature of aging, the kinetics of chemical transformations of various types, electrochemical corrosion, the kinetics of destruction of a solid under the impact of mechanical stresses, the effect of nature of the load on the process of destruction and the theory of Griffiths are considered. The destructive and non-destructive (local and integral) methods of product diagnostics and methods for increasing the resistance of products to various mechanisms of aging and mechanical loads are described. The manual is intended for students receiving training in the master’s degree program in the specialty 153 “Micro- and nanosystem technology”. It will be useful for students, graduate students, researchers specializing in micro-and nanoelectronics.uk
dc.description.abstractruРассмотрены старение изделий электронной техники как термодинамический процесс, условия протекания термодинамических процессов и кинетическое уравнение неравновесной термодинамики, механизмы старения, связанные с перераспределением вещества, влияние природы материала изделия и условий его эксплуатации на скорость протекания этих процессов, химическая природа старения, кинетика химических преобразований разного типа, электрохимическая коррозия, кинетика разрушения твердого тела под воздействием механических напряжений, влияние характера нагрузки на процесс разрушения и теория Гриффитса. Описаны разрушающие и неразрушающие (локальные и интегральные) методы диагностики изделий и методы повышения устойчивости изделий к различным механизмам старения и механическим нагрузкам. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по программе подготовки магистров по специальности 153 «Микро- и наносистемна техника». Также может быть полезно студентам, аспирантам и научным сотрудникам, специализирующимся на микро- и наноэлектронике.uk
dc.description.abstractukРозглянуто старіння виробів електронної техніки як термодинамічний процес, умови протікання термодинамічних процесів і кінетичне рівняння нерівноважної термодинаміки, механізми старіння, які пов’язані із перерозподілом речовини, вплив природи матеріалу виробу та умов його експлуатації на швидкість протікання цих процесів, хімічну природу старіння, кінетику хімічних перетворень різного типу, електрохімічну корозію, кінетику руйнування твердого тіла під впливом механічної напруги, вплив характеру навантаження на процес руйнування та теорію Гриффітса. Описано руйнівні й неруйнівні (локальні та інтегральні) методи технічної діагностики виробів і методи підвищення стійкості виробів до різних механізмів старіння та механічних навантажень. Для студентів вищих навчальних закладів, які навчаються за освітньою програмою «Мікро- та наноелектроніка». Також може бути корисним студентам, аспірантам і науковим співробітникам, які спеціалізуються на мікро- та наносистемній техніці.uk
dc.format.page176 с.uk
dc.identifier.citationФізичні основи надійності. Конспект лекцій [Електронний ресурс] : навчальний посібник для здобувачів ступеня магістра за освітньою програмою «Мікро- та наноелектроніка» / КПІ ім. Ігоря Сікорського ; уклад.: Ю. В. Діденко, Д. Д. Татарчук, О. В. Бакунцев. – Електронні текстові дані (1 файл: 2,73 Мбайт). – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2019. – 176 с. – Назва з екрана.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/27701
dc.language.isoukuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.subjectвироби електронної технікиuk
dc.subjectстарінняuk
dc.subjectтермодинамічні процесиuk
dc.subjectтехнічна діагностика виробівuk
dc.subjectпідвищення стійкості виробівuk
dc.titleФізичні основи надійності. Конспект лекційuk
dc.typeBookuk
dc.typeMethodical Materialuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
2019Fizychni-osnovy-nadiinosti.pdf
Розмір:
2.76 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.06 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Навчально-методичні матеріали (МЕ)