Аналіз чутливості фазового кута коефіцієнта відбиття хвилевідної вимірювальної комірки у випадку слабкопоглинаючого діелектрика

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorСеменов, А. О.
dc.contributor.authorСеменова, О. О.
dc.contributor.authorЧухов, В. В.
dc.contributor.authorSemenov, A.
dc.contributor.authorSemenova, E. A.
dc.contributor.authorChuhov, V.
dc.contributor.authorСеменов, А. А.
dc.contributor.authorСеменова, Е. А.
dc.contributor.authorЧухов, В. В.
dc.date.accessioned2014-07-30T12:24:51Z
dc.date.available2014-07-30T12:24:51Z
dc.date.issued2011
dc.description.abstractenIn problem for rectangular waveguide segment with dielectric layer parameters measurement we must analyze sensitivity these parameters to changes some influencing values, like segment length, wavelength and specimen dielectric permittivity. Analyze module and phase angle of reflection coefficient sensitivity for dielectric without loss and analyze module and phase angle of reflection and transmission coefficients sensitivity for low loss dielectric are made at present day. But we must know reflection coefficient phase angle sensitivity of waveguide measurement cell in case of low loss dielectric in some applied problems. In article this problem is solved by help of sensitivity coefficients. Analytical formulas for these coefficients are obtained and their frequency dependencies for segment length and complex dielectric permittivity changes are analyzed also. Measurements at resonant frequencies appropriateness are certified. But we obtain more accuracy, when we use longer specimen than shorter specimen, and specimen length is limited by measurement devices sensitivity even so.uk
dc.description.abstractruПри измерении параметров волноводной измерительной ячейки в виде отрезка прямоугольного волновода с плоскослоистым диэлектриком с точки зрения точности измерений нужно проанализировать чувствительность этих параметров к изменению таких влияющих величин, как длина образца, длина волны, диэлектрическая проницаемость образца. На сегодняшний день осуществлен анализ чувствительности модуля и аргумента коэффициента отражения для диэлектрика без потерь, а также для модулей коэффициентов отражения и передачи в случае слабопоглощающего диэлектрика. При этом остается открытым вопрос о чувствительности фазового угла коэффициента отражения волноводной измерительной ячейки для слабопоглощающего диэлектрика. В работе эта задача решена с помощью коэффициентов чувствительности. Получены аналитические выражения этих коэффициентов чувствительности, построены их частотные зависимости и проанализирован характер этих зависимостей, в т.ч. при изменении длины образца и его комплексной диэлектрической проницаемости. В целом подтверждена целесообразность проведения измерений на резонансных частотах, причем точность измерений будет большей при длинных образцах, нежели при коротких, а длина образцов будет ограничена, в первую очередь, чувствительностью измерительных приборов.uk
dc.description.abstractukПри вимірюванні параметрів хвилевідної вимірювальної комірки у вигляді відрізка прямокутного хвилеводу з плоскошаровим діелектриком з точки зору точності вимірювань потрібно проаналізувати чутливість цих параметрів до зміни таких впливних величин, як довжина зразка, довжина хвилі, діелектрична проникність зразка. На сьогоднішній день здійснено аналіз чутливості модуля та аргументу коефіцієнта відбиття для діелектрика без втрат, а також для модулів коефіцієнтів відбиття та передачі у випадку слабкопоглинаючого діелектрика. Проте залишається відкритим питання про чутливість фазового кута коефіцієнта відбиття хвилевідної вимірювальної комірки у випадку слабкопоглинаючого діелектрика. В роботі дану задачу розв’язано шляхом застосування коефіцієнтів чутливості. Отримано аналітичнівирази цих коефіцієнтів чутливості, побудовано їхні частотні залежності та проаналізовано характер цих залежностей, у т. ч. при зміні довжини зразка та його комплексної діелектричної проникності. В цілому підтверджено доцільність проведення вимірювань на резонансних частотах, причому точність вимірювань буде більшою при довгих зразках, ніж при коротких, а довжина зразків обмежуватиметься, в першу чергу, чутливістю вимірювальних приладів.uk
dc.format.pageС. 130-138uk
dc.identifier.citationСеменов, А. О. Аналіз чутливості фазового кута коефіцієнта відбиття хвилевідної вимірювальної комірки у випадку слабкопоглинаючого діелектрика / А. О. Семенов, О. О. Семенова, В. В. Чухов // Вісник НТУУ «КПІ». Радіотехніка, радіоапаратобудування : збірник наукових праць. – 2011. – № 45. – С. 130–138. – Бібліогр.: 8 назв.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/8263
dc.language.isoukuk
dc.publisherНТУУ «КПІ»uk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.status.pubpublisheduk
dc.subjectвимірювальна коміркаuk
dc.subjectкоефіцієнт відбиттяuk
dc.subjectдіелектрична проникністьuk
dc.subjectслабкопоглинаючий діелектрикuk
dc.subjectmeasuring celluk
dc.subjectthe reflection coefficientuk
dc.subjectdielectric constantuk
dc.subjectlow loss dielectricuk
dc.subjectизмерительная ячейкаuk
dc.subjectкоэффициент отраженияuk
dc.subjectдиэлектрическая проницаемостьuk
dc.subjectслабопоглощающий диэлектрикuk
dc.subject.udc621.317.3uk
dc.titleАналіз чутливості фазового кута коефіцієнта відбиття хвилевідної вимірювальної комірки у випадку слабкопоглинаючого діелектрикаuk
dc.title.alternativeSensitivity analysis of the phase angle of the reflection coefficient of waveguide measurement cell in the case of low loss dielectricuk
dc.title.alternativeАнализ чувствительности фазового угла коэффициента отражения волноводной измерительной ячейки в случае слабо поглощающего диэлектрикаuk
dc.typeArticleuk
thesis.degree.level-uk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
45_130.pdf
Розмір:
754.12 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Вісник НТУУ «КПІ». Радіотехніка, радіоапаратобудування: збірник наукових праць, № 45