Вирощування та характеризація фероелектричних тонких плівок Ge1−xSnxTe

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.advisorЧиркова, А. П.
dc.contributor.authorКозакевич, Михайло Олександрович
dc.date.accessioned2026-02-27T12:17:55Z
dc.date.available2026-02-27T12:17:55Z
dc.date.issued2025
dc.description.abstractТемою роботи є дослідження вирощених методом молекулярно-променевої епітаксії тонких плівок сплаву телурид германію-олова. У якості основних об’єктів дослідження взято чотири зразки потрійного сплаву з різним співвідношенням германію та олова, що відповідають різним значенням температури Кюрі фероелектричного фазового переходу. Метою роботи є дослідження впливу відпалювання під дією різних значень температури на формування фероелектричних доменів у тонких плівках Ge1−xSnxTe вирощених за температури вище або нижче температури фероелектричного фазового переходу. Робота складається зі вступу, трьох основних розділів та висновків. Перший розділ присвячено огляду літератури, що описує сполуки телуриду германію та телуриду олова, їх кристалічну структуру, основні властивості. Наведено дослідження фероелектричного фазового переходу у сплавах на основі цих сполук. Розглянуто співвідношення між температурою Кюрі фероелектричного фазового переходу та відповідною кристалічною структурою сплаву (стала ґратки та кут ромбоедричної фази) в залежності від складу сплаву. У другому розділі описані методики дослідження зразків які застосовувались у цій роботі. Зокрема, описано молекулярно-променеву епітаксію за допомогою якої вирощувались зразки, пірометричні виміри випромінювальної здатності, морфологічні виміри за допомогою атомно-силової мікроскопії та дослідження кристалічної структури зразків за допомогою рентгенівської дифракції. У третьому розділі детально описані зразки, алгоритм їх дослідження і отримані результати для всіх трьох методик. Робота містить додатки із отриманими зображеннями результатів вимірів та зображення лабораторних установок.
dc.description.abstractotherThe subject of this work is the characterisation of the germanium tin telluride thin films grown by molecular beam epitaxy. Four ternaty alloy samples with various germanium-to-tin ratios, corresponding to different values of the Curie temperature of the ferroelectric phase transition, were taken as the main object of study. The aim of this work is to study the effect of annealing at different temperatures on the ferroelectric domains formation in Ge1−xSnxTe thin films grown at temperatures above or below the ferroelectric phase transition temperature. The paper consists of the introduction, three main chapters and the conclusions. The first chapter represents a literature review describing germanium telluride and tin telluride as compounds, their crystal structure, and basic properties. The previous studies of ferroelectric phase transition in alloys based on these compounds are presented. The correlation between the Curie temperature of the ferroelectric phase transition and the corresponding crystal structure of the alloy (lattice constant and rhombohedral phase angle) is considered, depending on the alloy composition. In the second chapter, experimental methods which were applied in this work are described. In particular, the growth of the samples by molecular beam epitaxy, the pyrometric measurements of emissivity, the morphological characterisation by atomic force microscopy, and the study of the crystal structure of the samples using X-ray diffraction are explained. In the third chapter, the details about the samples, experimental details and the results obtained using all three techniques are discussed.. The work contains the appendices with the figures of the measurement results and the figures of laboratory equipment.
dc.format.extent58 с.
dc.identifier.citationКозакевич, М. О. Вирощування та характеризація фероелектричних тонких плівок Ge1−xSnxTe : дипломна робота ... бакалавра : 105 Прикладна фізика та наноматеріали / Козакевич Михайло Олександрович. – Київ, 2025. – 58 с.
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/79106
dc.language.isouk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорського
dc.publisher.placeКиїв
dc.subjectфероелектрики
dc.subjectтонкі плівки
dc.subjectтелурид германію-олова.
dc.titleВирощування та характеризація фероелектричних тонких плівок Ge1−xSnxTe
dc.typeBachelor Thesis

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Kozakevich_bakalavr.pdf
Розмір:
23.38 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
8.98 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Бакалаврські роботи (ПФ)
Бакалаврські роботи