Surface enhanced Raman spectroscopy of semiconductor nanoparticles

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorChursanova, M. V.
dc.contributor.authorDzhagan, V. M.
dc.contributor.authorLytvyn, O. S.
dc.contributor.authorValakh, M. Ya.
dc.contributor.authorDanailov, M.
dc.contributor.authorKhodasevich, I. A.
dc.contributor.authorOrlovich, V. A.
dc.date.accessioned2025-09-24T12:54:06Z
dc.date.available2025-09-24T12:54:06Z
dc.date.issued2010
dc.description.abstractApplication of Ag nanoisland films on Si substrate (Si/Ag) for surface enhancement of Raman signal from semiconductor quantum dots, namely CdSe/ZnS nanoparticles, is studied. Conditions of Si/Ag films annealing for the optimal signal enhancement are established.
dc.format.pagerangeP. 198
dc.identifier.citationSurface enhanced Raman spectroscopy of semiconductor nanoparticles / M. V. Chursanova, V. M. Dzhagan, O. S. Lytvyn, M. Ya. Valakh, M. Danailov, I. A. Khodasevich, V. A. Orlovich // Proc. of the International conference on laser application in life sciences LALS-2010, Oulu (Finland), 9-11 June. – Oulu, 2010. – P. 198.
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/76328
dc.language.isoen
dc.publisherTampere University Press
dc.publisher.placeOulu, Finland
dc.relation.ispartofInternational Conference Laser Applications in Life Sciences LALS-2010, Oulu, Finland, 9-11 June
dc.subjectCdSe
dc.subjectSi/Ag films
dc.subjectSERS
dc.titleSurface enhanced Raman spectroscopy of semiconductor nanoparticles
dc.typeArticle

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
oulu_2010_P198.pdf
Розмір:
723.18 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
8.98 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Матеріали конференцій, семінарів і т.п. (КЗФМФП)