Прилад для вимірювання товщини покриття діелектричних матеріалів

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.advisorБарилко, Сергій Віталійович
dc.contributor.authorЦимбал, Дмитро Олександрович
dc.date.accessioned2024-10-02T10:39:08Z
dc.date.available2024-10-02T10:39:08Z
dc.date.issued2024
dc.description.abstractДипломний проєкт на тему: "Прилад для вимірювання товщини покриття діелектричних матеріалів" містить 80 сторінок, 34 ілюстрації та 22 бібліографічних посилань. У дипломному проєкті проведений аналіз методів та засобів вимірювання товщини покриття діелектричних матеріалів, а саме: методу сканування довжини оптичної хвилі; методу інтерференції; методу нанесення подряпини; методу рентгенівської флуоресценції. За допомогою запропонованих методів та засобів сьогодні можна вимірювати товщину покриття різних діелектричних матеріалів, але більш доцільно на виробництві для реалізації моніторингу вимірювального параметру використовувати саме ємнісний різницевий метод. Також показано, що різницевий метод вимірювання товщини покриття діелектричного матеріалу передбачає використання змінного конденсатора перетворювача для визначення ємності між його пластинами та опорного каналу, значення напруги з якого повинне відніматися від значення напруги у вимірювальному каналі. Різницю зазначених напруг у кінцевому результаті пов’язують із параметром товщини покриття діелектричного матеріалу. У роботі представлено структурну та спрощену електричну схеми приладу, які працюють на основі різницевого ємнісного методу вимірювання товщини покриття діелектричного матеріалу. Розроблено проєкт електричної схеми та друкованих плат приладу в різних програмних середовищах та створено код мікроконтролера для тестової програми роботи вимірювального приладу.
dc.description.abstractotherThe diploma project on the topic: "The device for measuring the thickness of the coating of dielectric materials" contains 80 pages, 34 illustrations and 22 bibliographic references. The diploma project analyzed the methods and means of measuring the thickness of the coating of dielectric materials, namely: the optical wavelength scanning method; interference method; scratch application method; X- ray fluorescence method. With the help of the proposed methods and tools, today it is possible to measure the thickness of the coating of various dielectric materials, but it is more expedient to use the capacitive difference method in production to monitor the measurement parameter. It is also shown that the differential method of measuring the thickness of the coating of the dielectric material involves the use of a variable capacitor of the converter to determine the capacitance between its plates and the reference channel, the voltage value of which must be subtracted from the voltage value in the measuring channel. The difference in the specified voltages in the final result is associated with the parameter of the thickness of the coating of the dielectric material. The work presents the structural and simplified electrical diagrams of the device, which work on the basis of the difference capacitive method of measuring the thickness of the coating of the dielectric material. The project of the electrical circuit and printed circuit boards of the device was developed in various software environments, and the microcontroller code was created for the test program of the measuring device.
dc.format.extent80 с.
dc.identifier.citationЦимбал, Д. О. Прилад для вимірювання товщини покриття діелектричних матеріалів : дипломний проект … бакалавра : 152 Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка / Цимбал Дмитро Олександрович. – Київ, 2024. – 80 с.
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/69470
dc.language.isouk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорського
dc.publisher.placeКиїв
dc.titleПрилад для вимірювання товщини покриття діелектричних матеріалів
dc.typeBachelor Thesis

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Tsymbal_bakalavr.pdf
Розмір:
3.56 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
8.98 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Бакалаврські роботи (ІВТ)
Бакалаврські роботи