Контроль положення лінії візування оптичних прицілів

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorМикитенко, В. І.
dc.contributor.authorМельник, О. Д.
dc.contributor.authorСенаторов, В. М.
dc.date.accessioned2020-05-14T10:58:24Z
dc.date.available2020-05-14T10:58:24Z
dc.date.issued2020-05
dc.format.pagerangeC. 22-23uk
dc.identifier.citationМикитенко, В. І. Контроль положення лінії візування оптичних прицілів / Микитенко В. І., Мельник, О. Д., Сенаторов, В. М. // XІХ Міжнародна науково-технічна конференція «Приладобудування: стан і перспективи», 13-14 травня 2020 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – С. 22–23.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/33437
dc.language.isoukuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceXІХ Міжнародна науково-технічна конференція «Приладобудування: стан і перспективи», 13-14 травня 2020 р., Київ, Україна: збірник матеріалів конференції.uk
dc.subjectконтрольuk
dc.subjectлінія візуванняuk
dc.subjectоптико-електронний комплексuk
dc.subjectоптичний прицілuk
dc.subject.udc623.4.051uk
dc.titleКонтроль положення лінії візування оптичних прицілівuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
P.22-23.pdf
Розмір:
160.21 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.06 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Секція 2. Оптичні та оптико-електронні прилади і системи. Фотоніка