(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2022) Мельничук, Б. П.; Шевченко, В. В.
В роботі представлено систему контролю параметрів якості поверхні, а саме геометричного параметру шорсткості за допомогою методу хроматичного конфокального зондування. Розроблена принципова схема та блок-схема системи вимірювання параметрів шорсткості поверхні деталей приладів.