root.skip-to-content
English
Українська
Увійти
Вхід з ORCID
Email
Пароль
Увійти
Новий користувач? Зареєструйтесь.
Забули пароль?
Фонди та зібрання
Пошук за критеріями
English
Українська
Увійти
Вхід з ORCID
Email
Пароль
Увійти
Новий користувач? Зареєструйтесь.
Забули пароль?
Головна
Матеріали конференцій, семінарів і т.п.
Погляд у майбутнє приладобудування (12 ; 2019 ; Київ)
Секція 9. Метрологія та інформаційно-вимірювальні технології
Переглянути за автором
Секція 9. Метрологія та інформаційно-вимірювальні технології
Постійне посилання зібрання
https://ela.kpi.ua/handle/123456789/27664
Переглянути
Нові надходження
За датою
За автором
За назвою
За темою
Нові надходження
За датою
За автором
За назвою
За темою
Перегляд Секція 9. Метрологія та інформаційно-вимірювальні технології за Автор "Міхова, З. В."
Перейти
browse.back.all-results
Зараз показуємо
1 - 1 з 1
Результатів на сторінці
1
5
10
20
40
60
80
100
Налаштування сортування
У порядку збільшення
У порядку зменшення
Вантажиться...
Документ
Відкритий доступ
Методики оцінювання метрологічних характеристик засобів вимірювальної техніки
(
КПІ ім. Ігоря Сікорського
,
2019
)
Міхова, З. В.
Показати більше
Були запропоновані методики оцінювання індивідуальних метрологічних характеристик ЗВТ з урахуванням комплексу інструментальних характеристик: систематичної похибки, випадкової похибки, варіації і дрейфу.
Показати більше