root.skip-to-content
English
Українська
Увійти
Вхід з ORCID
Email
Пароль
Увійти
Новий користувач? Зареєструйтесь.
Забули пароль?
Фонди та зібрання
Пошук за критеріями
English
Українська
Увійти
Вхід з ORCID
Email
Пароль
Увійти
Новий користувач? Зареєструйтесь.
Забули пароль?
Головна
Матеріали конференцій, семінарів і т.п.
Погляд у майбутнє приладобудування (12 ; 2019 ; Київ)
Секція 9. Метрологія та інформаційно-вимірювальні технології
Переглянути за ключовими словами
Секція 9. Метрологія та інформаційно-вимірювальні технології
Постійне посилання зібрання
https://ela.kpi.ua/handle/123456789/27664
Переглянути
Нові надходження
За датою
За автором
За назвою
За темою
Нові надходження
За датою
За автором
За назвою
За темою
Перегляд Секція 9. Метрологія та інформаційно-вимірювальні технології за Ключові слова
Перейти
Зараз показуємо
1 - 20 з 48
Результатів на сторінці
1
5
10
20
40
60
80
100
Налаштування сортування
У порядку збільшення
У порядку зменшення
004.891:004.946:681.518.5
1
006.83
1
502.7
1
519.766
1
53.088.228
1
534.6
1
543.068.52
1
62-886
1
621.3.01
1
681.2-5
1
687.2
1
LabVIEW
1
National Instruments
1
варіація
1
випадкова похибка
1
вібрація
1
динамічні конвеєрні ваги
1
дискретне перетворення Хартлі
1
диференціальні електричні кола
1
достовірність повірки
1
«
1
(current)
2
3
»