Технологія і техніка друкарства: збірник наукових праць, Вип. 4(30)

Постійне посилання зібрання

https://ela.kpi.ua/handle/123456789/5690

Переглянути

Зараз показуємо 1 - 1 з 1

Відкритий доступ
Контроль товщини тонких плівок еліпсометричним методом
(ВПІ НТУУ "КПІ", 2010) Юшко, А. В.; Зенкін, М. А.; Yushko, A. V.; Zenkin, M. A.