root.skip-to-content
English
Українська
Увійти
Email
Пароль
Увійти
Новий користувач? Зареєструйтесь.
Забули пароль?
Фонди та зібрання
Пошук за критеріями
English
Українська
Увійти
Email
Пароль
Увійти
Новий користувач? Зареєструйтесь.
Забули пароль?
Головна
Матеріали конференцій, семінарів і т.п.
Погляд у майбутнє приладобудування (12 ; 2019 ; Київ)
Секція 9. Метрологія та інформаційно-вимірювальні технології
Переглянути за ключовими словами
Секція 9. Метрологія та інформаційно-вимірювальні технології
Постійне посилання зібрання
https://ela.kpi.ua/handle/123456789/27664
Переглянути
Нові надходження
За датою
За автором
За назвою
За темою
Нові надходження
За датою
За автором
За назвою
За темою
Перегляд Секція 9. Метрологія та інформаційно-вимірювальні технології за Ключові слова "53.088.228"
Перейти
browse.back.all-results
Зараз показуємо
1 - 1 з 1
Результатів на сторінці
1
5
10
20
40
60
80
100
Налаштування сортування
У порядку збільшення
У порядку зменшення
Вантажиться...
Документ
Відкритий доступ
Методики оцінювання метрологічних характеристик засобів вимірювальної техніки
(
КПІ ім. Ігоря Сікорського
,
2019
)
Міхова, З. В.
Показати більше
Були запропоновані методики оцінювання індивідуальних метрологічних характеристик ЗВТ з урахуванням комплексу інструментальних характеристик: систематичної похибки, випадкової похибки, варіації і дрейфу.
Показати більше