Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки
Вантажиться...
Дата
2017
Автори
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
Опис
Ключові слова
підвищення чутливості, величина двопроменезаломлення, вимірювання фази, модуляційна поляриметрія, фотопружний мікроскоп, сенсор переміщення, sensitivity increase, the value of the birefringence, the phase measurement, modulation polarimetry, photoelastic microscope, displacement sensor, повышение чувствительности, величина двулучепреломления, измерения фазы, модуляционная поляриметрия, фотоупругий микроскоп, сенсор перемещения
Бібліографічний опис
Олійник, О. О. Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки : автореф. дис. … канд. техн. наук : 05.27.01 – твердотільна електроніка / Олійник Остап Олегович. – Київ, 2017. – 22 с.