Секція 3. Комп’ютерно-інтегровані технології виробництва приладів
Постійне посилання зібрання
Переглянути
Нові надходження
Документ Відкритий доступ ТОВ «Прогрестех-Україна» – реалізація співпраці роботодавець – університет – студент(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020-05) Гладський, М. М.; Барандич, К. С.Документ Відкритий доступ Адаптивне керування процесом обробки деталей приладів в автоматизованому виробництві(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020-05) Шевченко, В. В.Документ Відкритий доступ Додатковий термо-механічний захист безкорпусних виробів у процесі складання та фіксації(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020-05) Зимовченко, В. О.; Борисевич, В. М.; Малахов, Г. Б.; Несін, В. В.Документ Відкритий доступ Автоматизована система визначення відстані до об’єкту за допомогою стереозору(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020-05) Защєпкіна, Н. М.; Голубєв, Л. П.; Матяш, О. М.Документ Відкритий доступ Комбінація символів та індикації для відображення виконуваних процесів у виробах приладобудування(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020-05) Несін, В. В.; Білевська, О. С.; Топчій, Н. В.; Лазебний, В. М.Документ Відкритий доступ Комп’ютерна-інтегрована система дозування рідкісніх продуктів(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020-05) Защєпкіна, Н. М.; Голубєв, Л. П.; Суров, В. О.Документ Відкритий доступ Спеціальний інструмент і технологія капілярної фіксації різьбових з’єднань в приладобудуванні(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020-05) Мовчан, К. В.; Рощенко, О. М.; Несін, В. В.Документ Відкритий доступ To computer modeling of processes and systems(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020-05) Vysloukh, Sergii; Voloshko, OksanaДокумент Відкритий доступ Використання квадратурних демодуляторів при розв’язанні технічних задач(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020-05) Матвієнко, С. М.Документ Відкритий доступ Система діагностування стану обладнання в процесі виготовлення деталей приладів(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020-05) Заєць, С. С.Документ Відкритий доступ Automatic shaft diameter calibrator for production systems(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020-05) Tymchik, Gregory; Skytsiouk, Volodymyr; Klotchko, TatianaДокумент Відкритий доступ Математичне моделювання в проектуванні технологічних процесів механоскладальних робіт(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020-05) Філіппова, М. В.Документ Відкритий доступ Modeling parameters of the detail’s surface layer(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020-05) Voloshko, Oksana; Vysloukh, SergiiДокумент Відкритий доступ Підвищення точності технологічних процесів за рахунок корекції розмірів обробки(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020-05) Діордіца, І. М.Документ Відкритий доступ Математична модель багатокритеріальної оптимізації процесу фінішного токарного оброблення деталей, що працюють в умовах циклічного навантаження(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020-05) Барандич, К. С.Документ Відкритий доступ Перспективи застосування матриці зондів на єдиній основі для атомно-силового мікроскопу(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020-05) Андрієнко, О. І.; Бондаренко, М. О.; Бондаренко, Ю. Ю.; Антонюк, В. С.Документ Відкритий доступ Problems of surface topography measurement after wear process(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020-05) Dzierwa, Andrzej; Stelmakh, NataliaДокумент Відкритий доступ Technology of repairing the main pipeline using brazewelded couplings(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020-05) Tymchik, Grigoriy S.; Podolian, Oleksandr O.