Підхід до діагностування цифрових пристроїв на повному перевіряючому тесті
Вантажиться...
Дата
2021
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Institute of Special Communication and Information Protection of National Technical University of Ukraine “Igor Sikorsky Kyiv Polytechnic Institute”
Анотація
Наведено результати досліджень щодо можливості застосування повного перевіряючого тесту для вирішення актуальної науково-технічної проблеми, а саме, локалізації несправностей в цифровому комбінаційному пристрої. Метою проведеного дослідження є підвищення ефективності діагностичного забезпечення сучасних цифрових пристроїв. Розглядаються несправності, які не перетворюють схему з категорії цифрових схем і спотворюють лише функції логічних елементів. До таких несправностей віднесено несправності типу закріплення значень сигналів в 0 та 1 на входах і виходах схеми та входах і виходах логічних елементів. Задача побудови діагностичного тесту в даний час не має рішення, яке б можна було рекомендувати для практичного застосування. Пропонується новий підхід до локалізації несправності у цифровому пристрої, заснований на застосуванні повного перевіряючого тесту разом з дедуктивним моделюванням, яке зменшує кількість підозрюваних несправних технічних станів. Побудова повного перевіряючого тесту базується на застосуванні методів визначення вхідних сигналів, які розрізняють пару технічних станів цифрової схеми. Описано діагностичну процедуру, в якій застосування повного перевіряючого тесту може суттєво зменшити обсяг діагностичної інформації, необхідної для пошуку несправностей в цифровому пристрої. Запропонована процедураможе бути рекомендована для побудови діагностичного забезпечення цифрових схем на етапах їх проєктування та експлуатації. Також запропоновано структурну схему програмно-апаратного пристрою для реалізації діагностичної процедури. Результатом проведеного дослідження є висновок про те, що застосування повного перевіряючого тесту значно скорочує обсяг діагностичної інформації і, відповідно, суттєво підвищує ефективність засобів визначення технічного стану цифрових пристроїв. Отримані результати досліджень продемонстровано на прикладі комбінаційної схеми C17 ISCAS. Показано, що повний перевіряючий тест локалізує в даній схемі всі константні несправності кратності 1.
Опис
Ключові слова
digital circuit, technical state, malfunction, verification test, diagnostic test, digital device model, цифрова схема, технічний стан, несправність, перевіряючий тест, діагностичний тест, модель цифрового пристрою
Бібліографічний опис
Куліков, В. Підхід до діагностування цифрових пристроїв на повному перевіряючому тесті / Куліков Василь Михайлович, Успенський Олександр Анатолійович, Журавель Андрій Сергійович, Журавель Микола Сергійович // Information Technology and Security. – 2021. – Vol. 9, Iss. 2 (17). – Pp. 189–199. – Bibliogr.: 6 ref.