Порівняльний аналіз методів побудови тестів для цифрових пристроїв
Вантажиться...
Дата
2012
Автори
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Institute of Special Communication and Information Protection of National Technical University of Ukraine “Igor Sikorsky Kyiv Polytechnic Institute”
Анотація
Розглядається проблема низької ефективності відомих детермінованих методів побудови тестів для цифрових схем. Показано, що головною причиною їх непридатності для складних схем є некерований перебір всіх комбінацій сигналів, які забезпечують прояв несправності на виході елемента з дефектом, та сигналів, які забезпечують транспортування викривленого сигналу до одного з виходів схеми. Результатом поведеного аналізу є висновок стосовно надання переваги при побудові тестів методу фокусованого пошуку.
Опис
Ключові слова
Бібліографічний опис
Куліков, В. Порівняльний аналіз методів побудови тестів для цифрових пристроїв / Куліков В. М. // Information Technology and Security. – 2012. – Vol. 1, Iss. 2 (2). – Pp. 34–44. – Bibliogr.: 12 ref.