Коливальна спектроскопія оксиду нікелю

Вантажиться...
Ескіз

Дата

2023

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

КПІ ім. Ігоря Сікорського

Анотація

Магістерська дисертація викладена на 68 сторінках, містить 4 розділи, 21 ілюстрацію та 76 джерел в списку посилань. Метою роботи є встановлення впливу температури підкладки на оптичні властивості тонких плівок оксиду нікелю, вирощених методом магнетронного розпилення. Предметом дослідження є оптичні властивості тонких плівок оксиду нікелю. В першому розділі проаналізовано такі основні методи дослідження тонких плівок, як ІЧ-спектроскопія з перетворенням Фур'є, яка включає в себе основні принципи цього методу та його застосування для ідентифікації та кількісного аналізу різних хімічних сполук; Раманівське розсіювання, яке розглядає принципи явища розсіювання світла на атомах та молекулах, зокрема інформацію про їх вібраційні та ротаційні рухи для використання в хімічному аналізі та дослідженні структури твердих тіл; Резонансне раманівське розсіювання, яке є вдосконаленою версією раманівської спектроскопії, розглядається його особливості та застосування для підвищення сигналу за допомогою відповідного співпадання енергетичних рівнів атомів чи молекул в твердому тілі. В другому розділі описано технологію синтезу та методи дослідження зразків тонких плівок NiO. В третьому розділі представлені результати досліджень тонких плівок NiO вирощених методом магнетронного розпилення на скляних підкладках. Встановлено, що висока температура підкладки сприяє покращенню оптичних властивостей вирощених плівок. В четвертому розділі описується розробка стартапу проєкту по створенню ефективного сенсора, та оцінюється його рентабельність.

Опис

Ключові слова

оксид нікелю, магнетронне розпилення, оптичне пропускання, раманівське росіювання, nickel oxide, magnetron sputtering, optical transmittance, Raman scattering

Бібліографічний опис

Гудзей, Д. І. Коливальна спектроскопія оксиду нікелю : магістерська дис. : 153 Мікро- та наносистемна техніка / Гудзей Дмитро Ігорович. – Київ, 2023. – 68 с.

DOI