Система контролю якості поверхні деталей приладів у автоматизованому виробництві
Вантажиться...
Дата
2024
Автори
Шевченко, В. В.
Пилипенко, В. О.
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
Опис
Ключові слова
якість поверхні деталей, акустичний метод, автоматизація контролю, продуктивність, надійність
Бібліографічний опис
Шевченко, В. В. Система контролю якості поверхні деталей приладів у автоматизованому виробництві / В. В. Шевченко, В. О. Пилипенко // XХIII Міжнародна науково-технічна конференція "Приладобудування: стан і перспективи", 14–15 травня 2024 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2024. – С. 84-86.