Метрологічні аспекти процесів генної інженерії

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorМайор, А. Ю.
dc.contributor.authorСамойліченко, О. В.
dc.date.accessioned2022-08-17T11:24:49Z
dc.date.available2022-08-17T11:24:49Z
dc.date.issued2022
dc.format.pagerangeC. 263-265uk
dc.identifier.citationМайор, А. Ю. Метрологічні аспекти процесів генної інженерії / Майор А. Ю., Самойліченко О. В. // XХI Міжнародна науково-технічна конференція “Приладобудування: стан і перспективи”, 17 – 18 травня 2022 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2022. – С. 263-265. – Бібліогр.: 3 назви.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/49469
dc.language.isoukuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceXХI Міжнародна науково-технічна конференція “Приладобудування: стан і перспективи”, 17 – 18 травня 2022 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференціїuk
dc.subjectгенна інженеріяuk
dc.subjectметрологічне забезпеченняuk
dc.subjectтранскрипційна одиницяuk
dc.subject.udc006.91:681.121uk
dc.titleМетрологічні аспекти процесів генної інженеріїuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
PSP-XXI_2022_p263-265.pdf
Розмір:
152.89 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Секція 11. Метрологія та інформаційно-вимірювальні технології