Застосування засобів інфрачервоної термографії для виявлення структурних дефектів фотоелектричних сонячних елементів
Дата
2018-12
Автори
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Анотація
Мета дослідження: Розроробка методу інфрачервоної термографії для виявлення дефектів сонячних елементів при нагріванні їх темновим струмом на етапі виготовлення та зборки.
Об’єкт дослідження: Фотоелектричні сонячні елементи.
Предмет дослідження: Наявність структурних дефектів у фотоелектричних сонячних елементах.
Завдання дослідження: Дослідити фотоелектричні сонячні елементи на наявність структурних дефектів.
Методи дослідження: Метод інфрачервоної термографії.
Результати дослідження: Запропонованоно метод термографії СЕ для виявлення дефектів при нагріванні зворотним темновим струмом, що дозволяє виявляти дефекти типу електричного пробою і мають характер резистивного шунта, в окремих СЕ або у сонячних батареях.
Галузь застосування: термографія, сонячна енергетика та екологія.
Структура роботи: У роботі міститься 74 сторінки та 29 рисунків. Список використаних джерел містить 59 найменувань.
Опис
Ключові слова
ІЧТ, сонячний елемент, темновий струм, термограф, дефекти СЕ, інфрачервона термографія, фотоелектричні сонячні батареї, ФЕСБ, FMR, nickel nanowires, porous matrix of aluminum oxide, resonance spectrum, magnetization, anisotropy, magnetic field
Бібліографічний опис
Шевчук, В. С. Застосування засобів інфрачервоної термографії для виявлення структурних дефектів фотоелектричних сонячних елементів : магістерська дис. : 104 Фізика та астрономія / Шевчук Вікторія Сергіївна. – Київ, 2018. – 88 с.