Стенд для вимірювання ємності напівпровідникових приладів

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.advisorКоролевич, Любомир Миколайович
dc.contributor.authorПришлюк, Андрій Андрійович
dc.date.accessioned2025-07-29T09:17:14Z
dc.date.available2025-07-29T09:17:14Z
dc.date.issued2025
dc.description.abstractОб`єкт дослідження: прилади твердотільної електроніки. Предмет дослідження: ємність напівпровідникових приладів. Мета роботи: Розробити стенд для вимірювання ємності напівпровідникових приладів. В роботі було розглянуто існуючу проблему паразитної ємності в приладах напівпровідникової електроніки , означено причини виникнення такої проблеми та її можливий вплив на безпосереднє функціонування цих приладів , здійснено аналіз різних методів вимірювання ємності , а також обгрунтовано застосування нового методу вимірювання ємності який буде найбільш оптимальним саме для цієї задачі та встановлено його переваги над іншими існуючими методами. Встановлено що з його допомогою можна визначати величину ємності широкого ряду приладів твердотільної електроніки без обмежень по напрузі і частоті.
dc.description.abstractotherObject of research: semiconductor devices. Subject of research: capacitance of semiconductor electronic devices. Purpose of the work: To develop a stand for measuring the capacitance of semiconductor electronic devices. In this work, the existing problem of capacitance of semiconductor electronic devices’ with electronic junction was considered, the causes of this problem and its possible impact on the direct functioning of these devices were identified, an analysis of various methods of measuring capacitance was carried out, and the use of a new method of measuring capacitance that will be most optimal for this task was substantiated and its advantages over other existing methods were established. It is established that it can be used to determine the value of the capacitance of a wide range of solid-state electronic devices without voltage and frequency restrictions.
dc.format.extent55 с.
dc.identifier.citationПришлюк, А. А. Стенд для вимірювання ємності напівпровідникових приладів : дипломна робота … бакалавра : 153 Мікро- та наносистемна техніка / Пришлюк Андрій Андрійович. – Київ, 2025. – 55 с.
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/75289
dc.language.isouk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорського
dc.publisher.placeКиїв
dc.subjectємність напівпровідникових приладів
dc.subjectвимірювання ємності
dc.subjectsemiconductors
dc.subjectcapacitance of semiconductor devices
dc.subjectcapacitance measurement
dc.titleСтенд для вимірювання ємності напівпровідникових приладів
dc.typeBachelor Thesis

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Pryshliuk_bakalavr.pdf
Розмір:
1.96 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
8.98 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Бакалаврські роботи (МЕ)
Бакалаврські роботи