The main characteristics of SiGe HBTs at low temperatures
dc.contributor.author | Dvornikov, О. V. | |
dc.contributor.author | Tchekhovski, V. А. | |
dc.contributor.author | Dziatlau, V. L. | |
dc.contributor.author | Prokopenko, N. N. | |
dc.contributor.author | Дворніков, О. В. | |
dc.contributor.author | Чеховський, В. О. | |
dc.contributor.author | Дятлов, В. Л. | |
dc.contributor.author | Прокопенко, М. М. | |
dc.contributor.author | Дворников, О. В. | |
dc.contributor.author | Чеховский, В. А. | |
dc.contributor.author | Дятлов, В. Л. | |
dc.contributor.author | Прокопенко, Н. Н. | |
dc.date.accessioned | 2018-04-19T08:17:47Z | |
dc.date.available | 2018-04-19T08:17:47Z | |
dc.date.issued | 2016 | |
dc.description.abstracten | The current-voltage curves (CVC) of n-p-n SiGe heterojunction bipolar transistors (HBT) are considered within the temperature range from minus -195˚С up to 25˚С, produced on the SGB25V technology of IHP. The experimental setup, the measurement technique and the connection features of transistors for elimination of the self-excitation are described. The special attention is paid to the temperature dependences of the static base current gain βF in the common-emitter configuration (CEC) and to the output CVC characteristics of transistor in the CEC. | uk |
dc.description.abstractru | Рассмотрены вольтамперные характеристики (ВАХ) n-p-n SiGe биполярных транзисторов (БТ) в диапазоне температур от минус 195˚С до 25˚С, изготовленных по технологическому маршруту SGB25V фирмы IHP. Описана экспериментальная установка, методика измерений и особенности включения транзисторов для устранения эффекта самовозбуждения. Особое внимание уделено температурным зависимостям статического коэффициента усиления тока базы в схеме с общим эмиттером (ОЭ) βF и выходной ВАХ транзистора в схеме ОЭ. | uk |
dc.description.abstractuk | Розглянуті вольт-амперні характеристики (ВАХ) n-p-n SiGe біполярних транзисторів (БТ) в діапазоні температур від мінус 195˚С до 25˚С, що виготовлені по технологічному маршруту SGB25V фірми IHP. Описана експериментальна установка, методика вимірювань і особливості ввімкнення транзисторів для усунення ефекту самозбудження. Особливу увагу приділено температурним залежностям статичного коефіцієнту підсилення струму бази в схемі з спільним емітером βF і вихідної ВАХ транзистора в схемі з спільним емітером. | uk |
dc.format.pagerange | Pp. 87-96 | uk |
dc.identifier.citation | The main characteristics of SiGe HBTs at low temperatures / О. V. Dvornikov, V. А. Tchekhovski, V. L. Dziatlau, N. N. Prokopenko // Вісник НТУУ «КПІ». Радіотехніка, радіоапаратобудування : збірник наукових праць. – 2016. – Вип. 66. – С. 87–96. – Бібліогр.: 15 назв. | uk |
dc.identifier.uri | https://ela.kpi.ua/handle/123456789/22802 | |
dc.language.iso | en | uk |
dc.publisher | КПІ ім. Ігоря Сікорського | uk |
dc.publisher.place | Київ | uk |
dc.source | Вісник НТУУ «КПІ». Радіотехніка, радіоапаратобудування : збірник наукових праць, Вип. 66 | uk |
dc.status.pub | published | en |
dc.subject | SiGe bipolar transistors | uk |
dc.subject | low temperatures | uk |
dc.subject | temperature of liquid nitrogen | uk |
dc.subject | SiGe біполярні транзистори | uk |
dc.subject | низькі температури | uk |
dc.subject | температура рідкого азоту | uk |
dc.subject | SiGe биполярные транзисторы | uk |
dc.subject | низкие температуры | uk |
dc.subject | температура жидкого азота | uk |
dc.subject.udc | 621.382 | uk |
dc.title | The main characteristics of SiGe HBTs at low temperatures | en |
dc.title.alternative | Основні характеристики SiGe біполярних гетеротранзисторів за низьких температур | uk |
dc.title.alternative | Основные характеристики SiGe гетеропереходных биполярных транзисторов при низких температурах | ru |
dc.type | Article | uk |
Файли
Контейнер файлів
1 - 1 з 1
Вантажиться...
- Назва:
- 9_Dvornikov.pdf
- Розмір:
- 1.22 MB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
- Опис:
Ліцензійна угода
1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 7.74 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: