The main characteristics of SiGe HBTs at low temperatures

Вантажиться...
Ескіз

Дата

2016

Науковий керівник

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

КПІ ім. Ігоря Сікорського

Анотація

Опис

Ключові слова

SiGe bipolar transistors, low temperatures, temperature of liquid nitrogen, SiGe біполярні транзистори, низькі температури, температура рідкого азоту, SiGe биполярные транзисторы, низкие температуры, температура жидкого азота

Бібліографічний опис

The main characteristics of SiGe HBTs at low temperatures / О. V. Dvornikov, V. А. Tchekhovski, V. L. Dziatlau, N. N. Prokopenko // Вісник НТУУ «КПІ». Радіотехніка, радіоапаратобудування : збірник наукових праць. – 2016. – Вип. 66. – С. 87–96. – Бібліогр.: 15 назв.

DOI