Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.advisorЦиганок, Борис Архипович
dc.contributor.authorОлійник, Остап Олегович
dc.contributor.degreedepartmentКафедра електронних приладів та пристроївuk
dc.contributor.degreefacultyФакультет електронікиuk
dc.contributor.degreegrantorНаціональний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського»uk
dc.date.accessioned2017-06-14T08:52:29Z
dc.date.available2017-06-14T08:52:29Z
dc.date.issued2017
dc.description.abstractukДисертація присвячена вдосконаленню модуляційно-поляризаційного методу реєстрації механічних напружень шляхом підвищення чутливості вимірювання наведеного нестаціонарними процесами двопроменезаломлення в матеріалах електроніки. Проведено моделювання та технічну реалізацію фотопружного мікроскопу з підвищеною чутливістю на основі досліджень нестаціонарної фотопружності в матеріалах електроніки для вимірювання в них величини двопроменезаломлення. Описана методика розрахунку приповерхневих та внутрішніх механічних напружень. Продемонстроване практичне застосування фотопружного мікроскопу для вимірювання механічних переміщень фотопружних еталонів з градаційними змінами показників заломлення. На основі розрахунків спектрів шумів модулятора, теплового, структурного, та інших шумів показано, що серед шумових факторів в процесі вимірювання домінуючими є тепловий шум, шум підсилювача та низькочастотні вібрації. Для модуляції лінійної та циркулярної компоненти лазерного випромінювання використаний фотопружний модулятор. Для підвищення чутливості реєстрації корисного сигналу запропонована синтезований оптимальний кореляційний фільтр, який додатково реалізує функцію синхронно-фазового детектування корисного та опорного сигналів на фоні шумів. Отримані вирази, які описують відношення С/Ш на виході фотопружного мікроскопу та його методичну та інструментальну похибки. Проведений порівняльний аналіз модуляційно-поляризаційних приладів з розробленим фотопружним мікроскопом для вимірювання механічних напружень, пошуку оптичних неоднорідностей в матеріалах.uk
dc.format.page165 л.uk
dc.identifier.citationОлійник, О. О. Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки : дис. … канд. техн. наук : 05.27.01 – твердотільна електроніка / Олійник Остап Олегович. – Київ, 2017. – 165 л.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/19684
dc.language.isoukuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.status.pubpublisheduk
dc.subjectпідвищення чутливостіuk
dc.subjectвеличина двопроменезаломленняuk
dc.subjectвимірювання фазиuk
dc.subjectмодуляційна поляриметріяuk
dc.subjectфотопружний мікроскопuk
dc.subjectсенсор переміщенняuk
dc.subjectsensitivity increaseen
dc.subjectthe value of the birefringenceen
dc.subjectthe phase measurementen
dc.subjectmodulation polarimetryen
dc.subjectphotoelastic microscopeen
dc.subjectdisplacement sensoren
dc.subjectповышение чувствительностиru
dc.subjectвеличина двулучепреломленияru
dc.subjectизмерения фазыru
dc.subjectмодуляционная поляриметрияru
dc.subjectфотоупругий микроскопru
dc.subjectсенсор перемещенияru
dc.subject.udc621.382.049.774:681.723.2]:535.568](043.3)uk
dc.titleПідвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електронікиuk
dc.typeThesis Doctoraluk
thesis.degree.levelcandidateuk
thesis.degree.nameкандидат технічних наукuk
thesis.degree.speciality05.27.01 – твердотільна електронікаuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Oliinyk_diss.pdf
Розмір:
2.95 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
7.8 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Дисертації (ЕПП)
Дисертації (вільний доступ)