Оцінювання теплової потужності дефектів сонячної панелі

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorБожко, К. М.
dc.contributor.authorМушкет, К. Я.
dc.contributor.authorОднорог, О. В.
dc.contributor.authorСидоренко, С. Ю.
dc.date.accessioned2026-06-17T11:49:21Z
dc.date.available2026-06-17T11:49:21Z
dc.date.issued2026
dc.description.abstractДля контролю сонячних елементів і панелей з метою виявлення в них прихованих дефектів традиційно використовують метод інфрачервоної термографії. Теоретичним підґрунтям для застосування інфрачервоної термографії у задачах фотовольтаїки є фундаментальна праця Отвіна Брайтенштайна із співавторами. Ще раніше колективом інституту Фраунгофера було встановлено зв’язок між характером зображення теплового поля сонячного елементу та його послідовним опором. Так були закладені основи для діагностики сонячних елементів і панелей на основі інфрачервоної термографії. Дослідження в цьому напрямку проводяться також в КПІ ім. Ігоря Сікорського.
dc.format.pagerangeС. 166-171
dc.identifier.citationОцінювання теплової потужності дефектів сонячної панелі / Божко К. М., Мушкет К. Я., Однорог О. В., Сидоренко С. Ю. // Приладобудування: стан і перспективи : збірник матеріалів XXV Міжнародної науково-технічної конференції, [Київ], 12-13 травня 2026 р. / КПІ ім. Ігоря Сікорського. – Київ, 2026. – С. 166-171. – Бібліогр. 4 назви.
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/81741
dc.language.isouk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорського
dc.publisher.placeКиїв
dc.relation.ispartofПриладобудування: стан і перспективи : збірник матеріалів XXV Міжнародної науково-технічної конференції, 12-13 травня 2026 р., м. Київ, Україна
dc.subjectсонячний елемент
dc.subjectсонячна панель
dc.subjectтеплова потужність дефекту
dc.subject.udc519.713
dc.titleОцінювання теплової потужності дефектів сонячної панелі
dc.typeArticle

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
PSP_26_166-171.pdf
Розмір:
280.17 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
8.98 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Приладобудування: стан і перспективи (25 ; 2026 ; Київ)