Підготовка зразків для металографічного контролю якості

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.advisorВерцанова, Олена Вікторівна
dc.contributor.authorАбраімов, Олексій Валерійович
dc.date.accessioned2022-02-07T14:55:36Z
dc.date.available2022-02-07T14:55:36Z
dc.date.issued2021
dc.description.abstractenThe object of the work is a multilayer capacitor. The subject of the research is to determine the main characteristics required for metallographic analysis of the structure of the multilayer capacitor and to determine the method of sample preparation. The purpose of the work is to develop a method of sample preparation to obtain an optical image of a multilayer capacitor. The first section describes the concept of microscopy, its methods and the principle of operation of the metallographic microscope. The second section describes the main methods of light microscopy, some methods are comparable, the positive and negative sides of each method. The third section is devoted to the preparation of samples for further metallographic analysis. Each of the stages of sample preparation was considered and the problems that may arise at each of these stages were analyzed. The fourth section describes the process of obtaining an optical image of a ceramic multilayer capacitor. The method of preparation of such a sample for metallographic quality control is analyzed. The fifth section describes the development of a startup project and assesses its profitability and competitiveness.uk
dc.description.abstractukОб’єктом дослідження є багатошаровий конденсатор. Предметом дослідження є визначення основних характеристик, необхідних для металографічного аналізу структури багатошарового конденсатору та визначення методу пробопідготовки. Мета роботи – розробка методики пробопідготовки для отримання оптичного зображення багатошарового конденсатору. В першому розділі описується поняття мікроскопії, її методи та принцип дії металографічного мікроскопа. В другому розділі описані основні методи світлової мікроскопії, деякі методи порівнянні між собою, виведені позитивні та негативні сторони кожного з методів. Третій розділ присвячений підготовці зразків для подальшого металографічного аналізу. Було розглянуто кожен з етапів пробопідготовки та розібрані проблеми, що можуть виникати на кожного з цих етапів. В четвертому розділі описано процес отримання оптичного зображення керамічного багатошарового конденсатора. Розібрана методика підготовки такого зразка для металографічного контролю якості. В п’ятому розділі описується розробка стартап проекту та оцінюється його рентабельність та конкурентоспроможність.uk
dc.format.page73 с.uk
dc.identifier.citationАбраімов, О. В. Підготовка зразків для металографічного контролю якості : магістерська дис. : 153 Мікро- та наносистемна техніка / Абраімов Олексій Валерійович. – Київ, 2021. – 73 с.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/46208
dc.language.isoukuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.subjectметалографічний аналізuk
dc.subjectпробопідготовкаuk
dc.subjectбагатошаровий керамічний конденсаторuk
dc.titleПідготовка зразків для металографічного контролю якостіuk
dc.typeMaster Thesisuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Abraimov_magistr.pdf
Розмір:
1.57 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.01 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Магістерські роботи (МЕ)
Магістерські роботи