Метод вимірювання надвисокочастотних характеристик анізотропних діелектричних матеріалів на основі тонкого діелектричного резонатора

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.advisorСвєчніков, Георгій Сергійович
dc.contributor.authorМегедь, Наталія Володимирівна
dc.date.accessioned2018-05-21T08:18:25Z
dc.date.available2018-05-21T08:18:25Z
dc.date.issued2018
dc.description.abstractenThe work presented on 70 pages contains 4 sections, 18 illustrations, 24 tables and 37 sources in the list of references. Thin dielectric resonator was the object of the study. The subject of the study - is the electrodynamic properties of a thin dielectric resonator. The purpose of this work is to investigate method of thin dielectric resonator for measuring ultrahigh-frequency characteristics of anisotropic dielectric materials. The first chapter provides an overview of the literature, which examines the existing methods of measuring the characteristics of dielectric materials, their classification, advantages and disadvantages. The second section describes the method of thin dielectric resonator. Also, the thin dielectric resonator itself is considered, examples of its application are given and its advantages over the usual dielectric resonator are substantiated. The third section presents the results of testing the thin dielectric resonator method for measuring the characteristics of anisotropic materials for measurement at ultrahigh frequencies. In the fourth chapter the development of a startup project was presented.uk
dc.description.abstractukМагістерську дисертацію виконано на 70 сторінках, що містять 4 розділи, 18 ілюстрацій та 37 джерел в переліку посилань. Об’єктом дослідження в роботі є тонкий діелектричний резонатор. Предметом дослідження являються електродинамічні властивості тонкого діелектричного матеріалу. Метою дослідження є дослідження методу тонкого діелектричного резонатора для вимірювання надвисокочастотних характеристик анізотропних діелектричних матеріалів. В першому розділі проведено огляд літератури, в якому оглянуто існуючі методи вимірювання характеристик діелектричних матеріалів, наведена їх класифікація, розглянуті переваги та недоліки. В другому розділі описується метод тонкого діелектричного резонатора. Також розглянуто сам тонкий діелектричний резонатор, наведено приклади його застосування та обґрунтовано його переваги над звичайним діелектричним резонатором. В третьому розділі наведено результати апробації методу тонкого діелектричного резонатора для вимірювання характеристик анізотропних матеріалів для вимірювань на надвисоких частотах. Четвертий розділ присвячений розробленню стартап проекту.uk
dc.format.page70 с.uk
dc.identifier.citationМегедь, Н. В. Метод вимірювання надвисокочастотних характеристик анізотропних діелектричних матеріалів на основі тонкого діелектричного резонатора : магістерська дис. : 153 Мікро- та наносистемна техніка / Мегедь Наталія Володимирівна. – Київ, 2018. – 70 с.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/22980
dc.language.isoukuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.subjectметод тонкого діелектричного резонатораuk
dc.subjectдіелектричний резонаторuk
dc.subjectанізотропіяuk
dc.subjectдіелектрична проникністьuk
dc.subjectтангенс кута діелектричних втратuk
dc.subject.udc621.372.41uk
dc.titleМетод вимірювання надвисокочастотних характеристик анізотропних діелектричних матеріалів на основі тонкого діелектричного резонатораuk
dc.typeMaster Thesisuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Mehed_magistr.pdf
Розмір:
1.51 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
7.8 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Магістерські роботи (МЕ)
Магістерські роботи