Автоматизована система контролю параметрів шорсткості поверхні деталей приладів
Вантажиться...
Дата
2025
Автори
Полушко, М. М.
Шевченко, В. В.
Мозговий, Р. С.
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
Опис
Ключові слова
автоматизована система, параметри шорсткості поверхні деталей приладів, оптичний метод, контроль
Бібліографічний опис
Полушко, М. М. Автоматизована система контролю параметрів шорсткості поверхні деталей приладів / Полушко М. М., Шевченко В. В., Мозговий Р. С. // XXІV Міжнародна науково-технічна конференція "Приладобудування: стан і перспективи", 13-14 травня 2025 р., м. Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2025. – С. 131-134. – Бібліогр. 6 назв.